Микроскопы
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CXТип
JEM 200CXМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияНаименование
Микроскоп электронно-ионный растровый SciosТип
МПИ
1 годCвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАНаименование
Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3DТип
Quanta 200 3DМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАНаименование
Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500Тип
JIB-4500Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияТип
Helios NanoLab 650Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАНаименование
Микроскоп сканирующий электронный NanoSEM-3DТип
NanoSEM-3DМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Applied Materials, Inc.", СШАНаименование
Микроскоп сканирующий электронный EVO MA25Тип
EVO MA25Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Тип
Zygo NewView 6200Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Zygo Corporation", СШАНаименование
Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3DiТип
НаноСкан-3DiМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.ТроицкНаименование
Микроскоп сканирующий зондовый MultiMode VТип
MultiMode VМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Veeco Instruments Inc.", СШАНаименование
Микроскоп с измерительной насадкойТип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
ЗАО "Экран ФЭП", г.НовосибирскНаименование
Микроскоп растровый электронный SUPRA-25Тип
SUPRA-25Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Наименование
Микроскоп растровый электронный NVision 40Тип
NVision 40Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер