Микроскопы
Фото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий Themis Z G3Тип
МПИ
1 годCвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Thermo Fisher Scientific", СШАФото
Тип
МПИ
1 годCвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Europe B.V., P.O.", НидерландыФото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий Libra120Тип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Фото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100FТип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияФото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100Тип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияФото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CXТип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияФото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CXТип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияФото
Тип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАФото
Наименование
Микроскоп электронно-ионный растровый SciosТип
МПИ
1 годCвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАФото
Наименование
Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3DТип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАФото
Наименование
Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500Тип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияФото
Тип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАФото
Наименование
Микроскоп сканирующий электронный NanoSEM-3DТип
Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Applied Materials, Inc.", США