Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”
заказать СИ

ВНИИОФИ

Фото

Комплексы автоматизированные для измерения поверхностных остаточных напряжений в металлах и сплавах механическим методом МерКулОН

Наименование

Комплексы автоматизированные для измерения поверхностных остаточных напряжений в металлах и сплавах механическим методом МерКулОН "Тензор-3"

Тип

МерКулОН "Тензор-3"

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ФГУП ММПП "Салют", г.Москва

Фото

Комплексы автоматизированные для измерения поверхностных остаточных напряжений в металлах и сплавах механическим методом МерКулОН

Наименование

Комплексы автоматизированные для измерения поверхностных остаточных напряжений в металлах и сплавах механическим методом МерКулОН "Тензор-2"

Тип

МерКулОН "Тензор-2"

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ФГУП ММПП "Салют", г.Москва

Фото

Комплексы автоматизированного приемочного контроля чистовых осей колесных пар вагонов ЗОНД-3

Наименование

Комплексы автоматизированного приемочного контроля чистовых осей колесных пар вагонов ЗОНД-3

Тип

ЗОНД-3

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ЗАО "Фирма "Зонд", г.С.-Петербург

Фото

Комплекс экспресс-измерений размеров частиц ИК 01

Наименование

Комплекс экспресс-измерений размеров частиц ИК 01

Тип

ИК 01

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ГНЦ РФ - ФГУП "Исследовательский центр им.М.В.Келдыша", г.Москва

Фото

Комплекс продольный ультразвукового контроля черновых осей 42 7610.0407

Наименование

Комплекс продольный ультразвукового контроля черновых осей 42 7610.0407

Тип

42 7610.0407

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ЗАО НПО "Интротест", г.Екатеринбург

Фото

Комплекс поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля

Наименование

Комплекс поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва

Фото

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии

Наименование

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва

Фото

Комплекс метрологический измерения хроматической дисперсии, поляризационной модовой дисперсии и спектрального пропускания в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах

Наименование

Комплекс метрологический измерения хроматической дисперсии, поляризационной модовой дисперсии и спектрального пропускания в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва

Фото

Комплекс метрологический для измерения топологии клеточных структур и распределения показателя преломления в нанобиотехнологических процессах

Наименование

Комплекс метрологический для измерения топологии клеточных структур и распределения показателя преломления в нанобиотехнологических процессах

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва

Фото

Комплекс метрологический для измерения силы света, светового потока, координат цветности, яркости полупроводниковых излучателей КМ-РЭ

Наименование

Комплекс метрологический для измерения силы света, светового потока, координат цветности, яркости полупроводниковых излучателей КМ-РЭ

Тип

КМ-РЭ

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва

Фото

Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

Наименование

Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва

Фото

Комплекс метрологический для измерений характеристик солнечных элементов МК-СЭ

Наименование

Комплекс метрологический для измерений характеристик солнечных элементов МК-СЭ

Тип

МК-СЭ

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва

Фото

Комплекс измерительный Камелия

Наименование

Комплекс измерительный Камелия

Тип

Камелия

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ОАО "НИИ космического приборостроения", г.Москва

Фото

Комплекс измерительный

Наименование

Комплекс измерительный "Гониофотометр типа RiGO 801"

Тип

"Гониофотометр типа RiGO 801"

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "TechnoTeam Bildverarbeitung GmbH", Германия

Фото

Комплекс диагностический портативный акустико-эмиссионный Эксперт-2014

Наименование

Комплекс диагностический портативный акустико-эмиссионный Эксперт-2014

Тип

Эксперт-2014

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ЗАО НПО "АЛЬКОР", г.Дзержинск
Показано с 1066 по 1080 из 1689 (всего 113 страниц)