Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва


Фото

Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Комплекс поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-
Показано с 1 по 4 из 4 (всего 1 страниц)