Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва

Категории 2

Оптические и оптико-физические

Линейные

Фото

Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

Наименование

Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва

Фото

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии

Наименование

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва

Фото

Комплекс поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля

Наименование

Комплекс поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва

Фото

Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов

Наименование

Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва

Показано с 1 по 4 из 4 (всего 1 страниц)