НИЦПВ
Тип
ПС-100 и ПСС-100Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
ООО "НТЦ "Нефтегаздиагностика", г.МоскваТип
ПС-600Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
ООО "НТЦ "Нефтегаздиагностика", г.МоскваНаименование
Плотномеры Plato MonitorТип
Plato MonitorМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Haffmans B.V.", НидерландыНаименование
Мутномеры лабораторные VOS RotaТип
VOS RotaМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Haffmans B.V.", НидерландыТип
Impact и Impact ProМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Zellweger Analytics S.A.", ФранцияТип
РЭМ-106ИМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
ОАО "SELMI", Украина, г.СумыНаименование
Микроскопы сканирующие зондовые Solver ProТип
Solver ProМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.МоскваНаименование
Микроскопы сканирующие зондовые Solver P47Тип
Solver P47Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "NT-MDT", г.МоскваНаименование
Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXTТип
SOLVER NEXTМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.МоскваНаименование
Микроскопы сканирующие зондовые NtegraТип
NtegraМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.МоскваНаименование
Микроскоп электронный растровый Philips XL 40Тип
Philips XL 40Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", НидерландыНаименование
Микроскоп электронный растровый JSM-7401FТип
JSM-7401FМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияНаименование
Микроскоп электронный растровый JSM-7001FТип
JSM-7001FМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияНаименование
Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)Тип
Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАНаименование
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100FТип
JEM-2100FМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", Япония