Микроскопы атомно-силовые

Фото

Микроскопы электронные сканирующие XL,

Наименование

Микроскопы электронные сканирующие XL, "Quanta"

Тип

XL, "Quanta"

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскопы электронные сканирующие XL

Наименование

Микроскопы электронные сканирующие XL

Тип

XL

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", Нидерланды

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3D

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3D

Тип

Quanta 200 3D

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп атомно-силовой Innova

Наименование

Микроскоп атомно-силовой Innova

Тип

Innova

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Veeco Instruments Inc.", США

Фото

Микроскоп атомно-силовой Dimension 3100

Наименование

Микроскоп атомно-силовой Dimension 3100

Тип

Dimension 3100

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Veeco Instruments Inc.", США

Фото

Комплекс метрологический для измерения топологии клеточных структур и распределения показателя преломления в нанобиотехнологических процессах

Наименование

Комплекс метрологический для измерения топологии клеточных структур и распределения показателя преломления в нанобиотехнологических процессах

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва

Показано с 1 по 6 из 6 (всего 1 страниц)