Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, EPOCH2

Основные
Тип
Зарегистрировано поверок 16
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Найдено поверителей 7

Назначение

Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, EPOCH2 (далее - спектрофотометры) предназначены для измерений оптической плотности исследуемых образцов различного происхождения.

Описание

Принцип действия спектрофотометров основан на измерении отношения двух световых потоков, прошедших через канал сравнения и канал образца в кюветном отделении. Монохроматор в качестве диспергирующего элемента использует вогнутую дифракционную решетку. Источником света служит импульсная ксеноновая лампа. Монохроматический луч от монохроматора при помощи полупрозрачного зеркала разделяется на пучки, направляемые на исследуемый и на эталонный образцы, и направляется в кюветное отделение. Прошедший через образец пучок затем попадает на детекторы, в качестве которых используются высокочувствительные фотодиоды.

Спектрофотометры имеют спектральную ширину щели 2,9 нм.

Спектрофотометры EPOCH, EPOCH2 выпускаются в следующих модификациях:

EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, EPOCH2TS, EPOCH2TSC, EPOCH2Q EPOCH2T EPOCH2TC.

Спектрофотометры предназначены для измерения оптической плотности образцов в 6-, 12-, 24-, 48-, и 96- луночных планшетах, а также в кварцевых кюветах с длиной оптического пути в 1 см (кроме модификации EPOCH).

Конструктивно спектрофотометры выполнены в виде настольных приборов и состоят из основного блока спектрофотометра с кюветным отделением. Модификации EPOCH2TS, EPOCH2TSC, EPOCH2^ EPOCH2TC снабжены сенсорным экраном. Управление модификациями EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, EPOCH2С осуществляется через персональный компьютер, подключаемый к спектрофотометрам.

Общий вид спектрофотометров представлен на рисунках 1 - 4.

Рисунок 1 - Общий вид спектрофотометров EPOCH

‘V -V.

\

aQc^

Рисунок 3 - Общий вид спектрофотометров EPOCH2TS, EPOCH2TSC

Схема маркировки спектрофотометров представлена на рисунке 5.

■изготовитель

Mfg. Date 2018-07-24 dl

[BloTek Instruments, Inc ш1 100 7igan StreM Highland Park, PO Вок 998 Winooski, VTOMOJ-DMe Tel: BO2-G55-4(M0 Mad» in USA [REFl EPOCH

#C£AXfe’

__L;    IS

lAhHSu-dlHffl ,

чнв1Ер(ен1,»|Т'“т!*и‘

Щ 1307246

знак утверждения типа

модификация

серииныи номер

Рисунок 5 - Схема маркировки

Пломбирование Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, EPOCH2 не предусмотрено.

Программное обеспечение

Спектрофотометры модификаций EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, ЕРОСН2С функционируют под управлением автономного специального программного обеспечения (далее - ПО), установленного на персональный компьютер или планшет. В спектрофотометрах модификаций EPOCH2TS, EPOCH2TSC, EPOCH2^ EPOCH2TC используется встроенное программное обеспечение, которое устанавливается заводом-изготовителем непосредственно в ПЗУ системы.

Программное обеспечение осуществляет функции сбора, обработки и представления измерительной информации, настройки параметров измерения, построения градуировочных графиков по стандартам, печати и сохранения результатов анализа.

Программное обеспечение записано в энергонезависимой памяти персонального компьютера. Невозможно несанкционированное изменение ПО, доступ к программному обеспечению исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя.

Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблице 1.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

Gen5

Номер версии (идентификационный номер) ПО

не ниже 3.0

Цифровой идентификатор ПО

-

Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Спектральный диапазон, нм

от 200 до 999

Пределы допускаемой абсолютной погрешности установки длины волны, нм

±2

Диапазон измерений оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм, Б

от 0,03 до 3,00

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм в диапазоне измерений от 0,03 до 1,00 включ. Б, Б

±0,03

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм в диапазоне измерений св. 1,00 до 3,00 включ. Б, %

±3,00

Таблица 3 - Основные технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Спектральная ширина щели, нм, не более

2,9

Габаритные размеры средства измерений, мм, не более:

-    высота

-    ширина

-    длина

330

320

395

Масса, кг, не более

25

Потребляемая мощность, В • А, не более

140

Параметры электрического питания:

-    напряжение переменного тока, В

-    частота переменного тока, Гц

от 100 до 240 от 50 до 60

Условия эксплуатации:

-    температура окружающей среды, °С

-    относительная влажность, %, не более

от +15 до +35 от 30 до 80

Знак утверждения типа

наносится на корпус прибора методом наклеивания и на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

Комплектность средства измерений приведена в таблице 4.

Таблица 4 - Комплектность спектрофотометров

Наименование

Обозначение

Количество, шт.

Спектрофотометр

-

1

Кабель электропитания

-

1

USB кабель

-

1

Руководство по эксплуатации

-

1

Методика поверки

МП 023.Д4-19

1

Поверка

осуществляется по документу МП 023.Д4-19 «Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, EPOCH2. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 03 апреля 2019 г.

Основные средства поверки:

-    комплект светофильтров КНС-10.5., рег. № 65272-16;

-    комплект светофильтров поверочный КСП-02 рег. № 38817-08.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик, поверяемых СИ с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационном документе.

Нормативные документы, устанавливающие требования к спектрофотометрам микропланшетным EPOCH, EPOCH2

ГОСТ 8.557-2007 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм

Техническая документация компании «BioTek Instruments Inc.», США

Развернуть полное описание