Московский Государственный индустриальный университет, г.Москва

Категории 1

Фото

Системы измерений параметров шероховатости поверхности HW-MSIU T500

Тип

HW-MSIU T500

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Системы портативные для измерений параметров шероховатости поверхности HW-MSIU Т500Р

Тип

HW-MSIU Т500Р

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-
Показано с 1 по 2 из 2 (всего 1 страниц)