Геометрические величины
Фото
Наименование
Микроскоп электронный растровый Philips XL 40Тип
Philips XL 40Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", НидерландыФото
Наименование
Микроскоп электронный растровый JSM-7401FТип
JSM-7401FМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияФото
Наименование
Микроскоп электронный растровый JSM-7001FТип
JSM-7001FМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияФото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)Тип
Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАФото
Тип
JEM-2100Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияФото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300Тип
TITAN 80-300Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАФото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий Libra120Тип
Libra120Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Фото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100FТип
JEM-2100FМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияФото
Наименование
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CXТип
JEM-100CXМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Jeol", ЯпонияФото
Наименование
Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3DТип
Quanta 200 3DМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАФото
Тип
Helios NanoLab 650Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "FEI Company", СШАФото
Наименование
Микроскоп сканирующий электронный NanoSEM-3DТип
NanoSEM-3DМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Applied Materials, Inc.", СШАФото
Тип
Zygo NewView 6200Методики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Zygo Corporation", СШАФото
Наименование
Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3DiТип
НаноСкан-3DiМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.ТроицкФото
Наименование
Микроскоп сканирующий зондовый MultiMode VТип
MultiMode VМетодики поверки
-Описание типа
-МПИ
-Cвидетельство
завод. номер
Производитель
Фирма "Veeco Instruments Inc.", США