Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L

Основные
Тип Senterra 532, Senterra 785, Senterra L
Год регистрации 2012
Дата протокола Приказ 297 п. 93 от 05.05.201209 от 29.06.06 п.91
Класс СИ 37
Номер сертификата 46409
Примечание 05.05.2012 утвержден вместо 32099-06
Срок действия сертификата 05.05.2017
Страна-производитель  Германия 
Тип сертификата (C - серия/E - партия) C

Назначение

Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L (далее по тексту - спектрометры Senterra) предназначены для измерения волновых чисел в оптических спектрах рассеяния микрообъектов в ближнем ИК и видимом диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в порошкообразной и твёрдой фазе, анализа продуктов нефтехимического производства, органического синтеза, фармацевтических препаратов и субстанций, продуктов питания, а так же для изучения полупроводниковых материалов, сканирования дефектов поверхности образцов и т.п.

Описание

Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L представляют собой стационарные автоматизированные приборы, принцип действия которых основан на методе эмиссионного оптического спектрального анализа.

Спектрометр Senterra объединяет в себе мультилазерный Рамановский спектрометр и конфокальный микроскоп. Рамановский спектрометр предназначен для анализа и регистрации спектрального состава эмиссионного потока излучения. Конфокальный микроскоп предназначен для наблюдения микрообъектов.

Спектрометры Senterra имеют защитный кожух предотвращающий выход лазерного излучения из спектрометра во время измерений и обеспечивающий легкий доступ к отсеку с образцом.

Спектрометры выпускаются в 3-х модификациях (Senterra 532, Senterra 785, Senterra L), отличающихся спектральным диапазоном измерений, мощностью излучения и количеством возбуждающих лазеров и их длиной волны. Полностью конфокальная система способна приспосабливаться к различным возбуждающим длинам волн, при этом обеспечивая максимально возможное пространственное разрешение. Так как спектрометры Senterra базируются на оптическом микроскопе серии OLYMPUS BX, доступны все необходимые инструменты для визуализации и характеризации образца. Большие образцы могут быть проанализированы с помощью встроенного волоконно-оптического датчика.

Проба устанавливается на предметный столик между источником лазерного излучения и детектором. При падении лазерного излучения на образец происходит возбуждение комбинационного рассеяния света. Дифракционные решётки выделяют спектральную полосу, которая регистрируется с помощью детектора. Спектральный состав излучения характеризует химический состав пробы.

Конструктивно спектрометры выполнены в виде настольных приборов с отдельно устанавливаемым компьютером. По заказам приборы оснащаются широким набором дополнительных устройств и принадлежностей, комплектуются библиотеками спектров веществ.

В спектрометре предусмотрена процедура непрерывной калибровки по шкале длин волн, в качестве средства калибровки используется неоновая лампа с постоянными спектральными характеристиками. Используемая технология автоматически калибрует систему, обеспечивая точность по длине волны не хуже 0,1 см-1.

Рисунок 1 - Общий вид спектрометров Senterra

1                                          2

Рисунок 2 - Спектрометр Senterra - вид сзади

1 - маркировка; 2- место нанесения пломбирования;

Программное обеспечение

Работа спектрометра контролируется с помощью программного обеспечения (ПО) OPUS™ версия 6.5 и 7.0, данное программное обеспечение имеет уровень защиты C, согласно МИ 3286-2010. Также в ПО входит приложение OPUS Validation Program (OVP) - прикладная программа обеспечивает автоматическую проверку спектрометра, выполняя Тест Качества Работы (PQ) и Тест Качества Функционирования (OQ). Данные по ПО приведены в таблице 1. Таблица 1

Наименование программного обеспечения

Идентификационное   на

именование программного обеспечения

Номер   версии

(идентификационный   номер)

программного обеспечения

Цифровой идентификатор программного обеспечения    (кон

трольная сумма исполняемого кода)

Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения

Программа управления   и

обработки данных

OPUS™

6.5

D32177E3 (по файлу opus.exe)

CRC32

OPUS™

7.0

A50EAC07 (по файлу opus.exe)

CRC32

Технические характеристики

Метрологические и технические характеристики спектрометров Senterra 532, Senterra

785, Senterra L представлены в таблице 2

Таблица 2

Наименование характеристик

Значение характеристик

Senterra 532

Senterra 785

Senterra L

Длина волны возбуждающего лазера, нм

532

785

532, 785

Спектральный диапазон, см-1 (мкм)

50:4400 (2,273:200)

50:3500 (2,857:200)

50:4400 (2,273:200)

Длина волны возбуждающего лазера, нм; спектральный диапазон, см-1 (мкм), дополнительное дооснащение.

830; 90:3000 (111:3,333) 633; 50:3500 (200:2,857) 488; 90:4400 (111:2,273) 1064; 70:3500 (143:2,857)

Спектральное разрешение, см-1, не хуже

4,5

Пространственное разрешение, мкм

1

Конфокальное разрешение глубина, мкм

2

Предел допускаемого значения среднеквадратического отклонения, см-1

0,1

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения по шкале волновых чисел в диапазонах: - по образцу из полистирола (4500 : 500) см-1, не более

± 1

Фокусное расстояние, мм

200

Напряжение питания переменного тока, В

220 (+10/-15 %)

Потребляемая мощность, Вт

300

Габаритные размеры: - диаметр, не более, мм - высота, не более мм

850

840

Масса, кг, не более

56

Условия эксплуатации:

температура окружающего воздуха, °С относительная влажность воздуха, %, не более

18:35

70

Условия транспортировки: температура окружающего воздуха, °С

От минус 20 до плюс 40

Срок службы, не менее, лет

7

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати и на корпус спектрометра в виде голографической наклейки.

Комплектность

Комплект поставки определяется заказом и отражается в спецификации.

Основной комплект включает:

• Спектрометр Senterra

• Компьютер

• Принтер

• Соединительные кабели

• Программное обеспечение OPUS™

• Руководство по эксплуатации (на русском языке)

• Описание программного обеспечения (на русском языке)

• Методика поверки МП 53.Д4-11

• Запасные части

Дополнительное оборудование, поставляемое по заказу:

• Устройство автоматического удаления флуоресценции для лазера 785 нм

• Лазер (532 нм, 785 нм, 830 нм, 633 нм, 488 нм, 1064 нм)

• Дифракционная решётка

• Оптоволоконный датчик для больших и удалённых образцов

• Оборудование для атомно-силового анализа

• Моторизованный предметный столик

• Поляризаторы

• Объективы

• Библиотеки спектров

Поверка

осуществляется по документу «Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L. Методика поверки. МП 53.Д4-11», утверждённому ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» 31 октября 2011 г.

Основные средства поверки:

Образец пленки полистирола из комплекта поставки толщиной 0,025-2,5 мм по ГОСТ 20282-86.

Сведения о методах измерений

Сведения о методах измерений приведены в Руководстве по эксплуатации «Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L», раздел 4 «Эксплуатация».

Нормативные документы

Техническая документация фирмы «Bruker Optik GmbH»», Германия.

Рекомендации к применению

Cпектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L могут применяться для выполнения работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям; для осуществления мероприятий государственного контроля (надзора).

Развернуть полное описание