Назначение
Спектрометры рентгенофлуоресцентные волнодисперсионные ZSX Primus, ZSX Primus II, ZSX Primus IV (далее - спектрометры) предназначены для измерений массовой доли элементов от бериллия до урана в различных веществах и материалах: металлах, сплавах, порошках, стружках, геологических породах, жидкостях в соответствии с методиками измерений, аттестованными или стандартизованными в установленном порядке.
Описание
Принцип действия спектрометров основан на регистрации интенсивности вторичного рентгеновского излучения образца, возбуждаемого излучением рентгеновской трубки.
Рентгеновское излучение, испускаемое рентгеновской трубкой, возбуждает атомы элементов в образце (пробе) и вызывает рентгеновскую флуоресценцию элементов (характеристическое рентгеновское излучение), которое попадает на кристалл-анализатор (монокристалл, срезанный по определенной кристаллографической плоскости или многослойные структуры). В результате дифракции на кристалл-анализаторе характеристическое рентгеновское излучение в соответствии с уравнением Вульфа-Брегга разлагается в спектр и регистрируется системой детектирования многоканального волнодисперсионного спектрометра последовательного типа. По положению и интенсивности линий в спектре проводится определение массовой доли элементов.
Конструктивно спектрометр выполнен в виде стационарного напольного прибора, включающего следующие основные составляющие: спектрометрический блок с источником рентгеновского излучения и источником высокого напряжения (генератором); аналитическая камера с автоматическим или ручным устройством загрузки исследуемых образцов с 10-ти позиционным сменщиком кристаллов-анализаторов на легкие и тяжелые элементы; блок управления и обработки данных с системой детектирования и регистрации спектров; блок температурной стабилизации аналитической камеры; система вакуумирования. Управление процессом измерения и контроль состояния спектрометра осуществляется посредством отдельно устанавливаемого управляющего внешнего компьютера со специализированным программным обеспечением (ПО) и принтера.
В качестве источника рентгеновского излучения в спектрометре используется рентгеновская трубка с родиевым анодом с максимальной мощностью 4 кВт (опция 3 кВт) с бериллиевым окном толщиной 30 мкм. Рентгеновская флуоресценция элементов, дифрагированная кристаллами-анализаторами, двумя детекторами: проточным пропорциональным и (или) сцинтилляционными. Выбор кристалла-анализатора зависит от измеряемых элементов от бериллия до урана (стандартно устанавливаются кристаллы - LiF200 на тяжелые элементы и Ge, PET и RX25 на легкие элементы и дополнительно, по заказу - LiF220, RX4, RX9, RX35, RX40, RX45, RX61F, RX61, RX75, RX85, LiF420).
Спектрометр оснащен вакуумной системой и дополнительно может оснащаться системой гелиевой (азотной) продувки аналитической камеры с возможностью настройки скорости потока газа. Блок температурной стабилизации аналитической камеры спектрометра поддерживает температуру 36,5 °С.
Конструкция спектрометров обеспечивает безопасные условия работы. При максимальных напряжении и токе рентгеновской трубки мощность эквивалентной дозы рассеянного
рентгеновского излучения на расстоянии 10 см от внешней поверхности корпуса работающего спектрометра не превышает 1 мкЗв/ч.
Спектрометры выпускаются в трех модификациях ZSX Primus, ZSX Primus II, ZSX Primus IV, выполнены в однотипном корпусном исполнении с различными конструктивными особенностями и имеют одинаковые метрологические характеристики.
В модификации спектрометра ZSX Primus реализована классическая схема с нижним расположением волнового спектрометра, когда рентгеновская трубка, блок кристаллов-анализаторов и блок детекторов расположены под поверхностью исследуемого образца. Данная конфигурация предпочтительна для определения концентрации примесных элементов в жидкостях.
В модификациях спектрометра ZSX Primus II, ZSX Primus IV рентгеновская трубка, блок кристаллов-анализаторов и блок детекторов располагаются над поверхностью исследуемого образца, что устраняет проблему с их загрязнением материалом порошковых проб.
Общий вид спектрометров ZSX Primus, ZSX Primus II, ZSX Primus IV представлен на рисунках 1 - 3.
Пломбирование спектрометров ZSX Primus, ZSX Primus II, ZSX Primus IV не предусмотрено.
ua
Программное обеспечение
Идентификационные данные программного обеспечения (ПО) спектрометров приведены в таблице 1.
Уровень защиты ПО спектрометров «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Влияние ПО учтено изготовителем при нормировании метрологических характеристик спектрометров. Конструкция спектрометров ZSX Primus, ZSX Primus II, ZSX Primus IV исключает возможность несанкционированного влияния на ПО средства измерения и измерительную информацию.
Идентификационные данные (признаки) | Значение для модификации спектрометра |
ZSX Primus ZSX Primus II | ZSX Primus IV |
Идентификационное наименование ПО | ZSX | ZSX Guidance |
Идентификационное наименование исполняемого файла | ZMonitor | ZMonitor |
Номер версии (идентификационный номер) ПО | не ниже 7.71 | не ниже 8.37 |
Цифровой идентификатор ПО | - | - |
Технические характеристики
Таблица 2 - Метрологические характеристики
Наименование характеристики | Значение характеристики | |
ZSX Primus ZSX Primus II ZSX Primus IV |
Диапазон определяемых элементов | от Ве (4) до U (92) | |
Чувствительность1-*, (имп/с)/%, не менее: - Si (Ка) | 915 | |
- Cu (Ка) | 770 | |
- W (La) | 35 | |
Предел допускаемого относительного СКО выходного сигнала^, %: - Si (Ka), Cu (Ка), W (La) | 1,5 | |
- Ni (Ка), Cr (Ка) | 0,5 | |
Скорость счета при измерении стандартных образцов, имп/с, не менее, для элементов и их аналитических линий: - Na (Ка) | 11000 | |
- Si (Ка) | 200000 | |
- Co (Ка) | 30000 | |
- Ti (Ка) | 3000 | |
- Pb (Lm) | 39000 | |
Контрастность (отношение скорости счета при измерении стандартного образца, содержащего указанный элемент, к скорости счета при измерении фонового образца), отн. ед., не менее, для элементов и их аналитических линий: - Na (Ка) | 2700 | |
- Ti (Ка) | 70 | |
- Pb (Lw) | 20 | |
1) При использовании стандартного образца стали легированной ГСО | 4506-92П/ |
4510-92П (индекс СО ЛГ34) и измерении скорости счета импульсов элементов в | условиях: |
источник - рентгеновская трубка с Rh-анодом, напряжение 50 кВ, ток 60 мА; кристалл- |
анализаторы - LiF (200) и PET; детекторы - сцинтилляционный и | проточно- |
пропорциональный. | | |
Наименование характеристики | Значение характеристики |
ZSX Primus | ZSX Primus II | ZSX Primus IV |
Время измерения, с | от 10 до 1000 |
Максимальный размер пробы, мм: - диаметр - высота | 51 30 | 52 30 |
Масса, кг, не более | 800 |
Г абаритные размеры (ДлинахШиринахВысота), мм, не более | 880x850x1440 | 1310x885x1475 | 1310x890x1465 |
Параметры электрического питания: - напряжение сетевого питания, В - частота питающей сети, Гц | 200±22 (3 фазы) 60/50 |
Средний срок службы, лет, не менее | 10 |
Условия эксплуатации: - температура окружающего воздуха, °С - относительная влажность воздуха, %, не более | от +15 до +30 75 |
Знак утверждения типа
наносится на титульный лист «Руководства по эксплуатации» в виде наклейки. Комплектность средства измерений
Таблица 4 - Комплектность средства измерений
Наименование | Обозначение | Количество |
Спектрометр рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный 1) | ZSX Primus/ZSX Primus II/ ZSX Primus IV | 1 шт. |
Руководство по эксплуатации, включающее Руководство пользователя ПО | - | 1 шт. |
Методика поверки | МП 233-223-2017 | 1 экз. |
1) Модификация согласно заказу |
Поверка
осуществляется по документу МП 233-223-2017 «ГСИ. Спектрометры рентгенофлуоресцентные волнодисперсионные ZSX Primus, ZSX Primus II, ZSX Primus IV. Методика поверки», утвержденному ФГУП «УНИИМ» 23 июля 2018 г.
Основные средства поверки:
- стандартный образец (СО) массовой доли натрия и хлора в твердой матрице (NaCl-ТМ СО УНИИМ) - ГСО 10934-2017, массовая доля натрия 39,3 %, границы относительной погрешности ±0,1 %;
- СО массовой доли титана в твердой основе (КО-100) - ГСО 10020-2011, массовая доля титана 1,0 %, границы относительной погрешности ±5 %;
- СО массовой доли свинца в твердой матрице (Pb-ТМ СО УНИИМ) - ГСО 10991-2017, массовая доля свинца 1,03 %, границы относительной погрешности ±3 %;
- СО массовой доли борной кислоты в твердой основе (КО-163) - ГСО 10022-2011, массовая доля борной кислоты 99,83 %, границы относительной погрешности ±0,10 %;
- СО состава сталей легированных - ГСО 4506-92П/4510-92П (комплект СО ЛГ32-ЛГ36), образец с индексом ЛГ 34 (рекомендуемые элементы: Si, Cu, Ni, Cr, W), абсолютная погрешность аттестованных значений массовых долей элементов от 0,004 % до 0,06 %.
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение поверяемого средства измерений с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на свидетельство о поверке в виде клейма.
Сведения о методах измерений
ГОСТ 33850-2016 Почвы. Определение химического состава методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии
ГОСТ Р 55879-2013 Топливо твердое минеральное. Определение химического состава золы методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии
ГОСТ Р 55410-2013 Огнеупоры. Химический анализ рентгенофлуоресцентным методом ГОСТ Р 55080-2012 Чугун. Метод рентгенофлуоресцентного анализа ГОСТ ISO 20884-2012 Топлива автомобильные. Метод определения содержания серы рентгенофлуоресцентной спектрометрией с дисперсией по длине волны
ГОСТ Р ЕН ИСО 14596-2008 Нефтепродукты. Определение содержания серы методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии с дисперсией по длине волны
ГОСТ Р 52660-2006 Топлива автомобильные. Метод определения содержания серы рентгенофлуоресцентной спектрометрией с дисперсией по длине волны
ГОСТ 30608-98 Бронзы оловянные. Метод рентгенофлуоресцентного анализа ГОСТ 30609-98 Латуни литейные. Метод рентгенофлуоресцентного анализа ГОСТ 28817-90 Сплавы твердые спеченные. Рентгенофлуоресцентный метод определения металлов
ГОСТ 20068.4-88 Бронзы безоловянные. Метод рентгеноспектрального флуоресцентного определения алюминия
ГОСТ 25278.15-87 Сплавы и лигатуры редких металлов. Рентгенофлуоресцентный метод определения циркония, молибдена, вольфрама и тантала в сплавах на основе ниобия
Нормативные документы
Техническая документация изготовителя «Rigaku Corporation», Япония