Спектрометры рентгенофлуоресцентные Skyray

Основные
Тип
Зарегистрировано поверок 13
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Найдено поверителей 5

Назначение

Спектрометры рентгенофлуоресцентные Skyray (далее - спектрометры) предназначены для измерений массовой доли элементов в металлах и сплавах по аттестованным методикам измерений.

Описание

Принцип работы спектрометров основан на измерении интенсивности флуоресцентного излучения, испускаемого атомами анализируемой пробы под действием рентгеновского излучения.

Конструктивно спектрометр представляет собой лабораторный прибор, который состоит из рентгеновской трубки, полупроводникового детектора, встроенной цифровой видеокамеры и интерфейса для подключения персонального компьютера.

Для регистрации квантов рентгеновского излучения используется полупроводниковый детектор, охлаждаемый методом Пельтье.

Встроенная цифровая видеокамера позволяет выбрать необходимый локальный участок (до 500 мкм) для оценки распределения содержания элементов в пробе.

Спектрометры выпускаются 16 моделями: EDX600, EDX880, EDX1800B, EDX3000, EDX3200S PLUS, EDX3600, EDX3600B, EDX3600H, SUPER XRF1050, EDX6000B, EDX-Portable, EDX Pocket Series, SMART100, WDX200, WDX400, SUPER XRF2040, которые отличаются измеряемыми элементами, диапазонами измерений, габаритными размерами и массой.

Программное обеспечение

Спектрометры оснащены программным обеспечением, позволяющим проводить контроль процесса измерений, осуществлять сбор экспериментальных данных, обрабатывать и сохранять полученные результаты, передавать результаты измерений на персональный компьютер или на принтер.

Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные

Значение

Идентификационное наименование ПО

EDXRF

Номер версии ПО

*

не ниже 2.0

Цифровой идентификатор ПО

-

Другие идентификационные данные

-

*

Примечание: цифры в версии программного обеспечения должны быть не ниже указанных.

Конструкция спектрометров исключает возможность несанкционированного влияния на программное обеспечение и измерительную информацию.

Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» по Р 50.2.077-2014.

Фотографии внешнего вида спектрометра представлены на рисунке 1. Места нанесения знака поверки указаны стрелкой.

Модель EDX Pocket Series

Модель EDX3600B

Модель EDX-Portable

МодельEDX6000B

Модель WDX200

Модель WDX400

Модель SUPER XRF2040

Модель EDX880

Модель EDX3200S PLUS

Модель SMART100

_1 +

Ptifj-

\

Модель EDX3600H

Модель EDX3600

Модель EDX1800B

SUPER XRF1050

Наименова

ние

характерис

тик

Значения характеристик для моделей

EDX

600

EDX

880

ED

X

180

0B

EDX

3000

EDX

3200S

PLUS

ED

X

360

0

EDX

3600B

ED

X

360

0H

ED

X

600

0B

SUP

ER

XRF

1050

EDX-

Portabl

e

ED

X

Poc

ket

Seri

es

SMART

100

WDX

200

WDX

400

SUPER

XRF

2040

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

16

17

Определя

емые

элементы

Au, Ag, Cu, Zn, Ni, Pd, Pt, Rh, Cd, Ru

от S до U

от Na до U

от S до U

от K до U

от

Mg

до

U

от Na до U

Диапазон

измерений

массовой

доли

элементов,

%

0,1 - 99,99

110-4 - 99,99

110-5

99,99

210-4 -99,99

110-4 - 99,99

110-5 -99,99

Пределы

обнаруже

ния

элементов

(Cd,

Pd,Cr,Hg, Br), %

0,1

0,1

1 10-4

110-5

1 10-4

110-5

Предел

допуска

емого

относи

тельного

среднего

квадрати

ческого

2,0

всего листов 9

Наименова

ние

характерис

тик

Значения характеристик для моделей

EDX

600

EDX

880

ED

X

180

0B

EDX

3000

EDX

3200S

PLUS

ED

X

360

0

EDX

3600B

ED

X

360

0H

ED

X

600

0B

SUP

ER

XRF

1050

EDX-

Portabl

e

ED

X

Poc

ket

Seri

es

SMART

100

WDX

200

WDX

400

SUPER

XRF

2040

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

16

17

отклоне

ния

результа

тов

измерений выходного сигнала, %

Параметры источника питания: Напряжение, В Частота,

Гц

220±10

50/60

Потребля

емая

мощность,

ВА

50

50

100

100

100

100

100

100

200

200

50

50

100

400

400

200

Габарит

ные

размеры (ДхШхВ), мм, не более

350

х

500

х

400

460х

450х

358

550

х

410

х

320

530х

370х

380

350x350

х290

640

х

540

х

830

650х

608х

466

590

х

300

х

610

600

х

520

х

380

600

х

520

х

380

320х240

х100

320

х

240

х

100

700х620

х379

1095х

960х

1255

1095х

960х

1255

802х760

х1120

Масса, кг, не более

30

38

125

32

25

85

105

125

88

150

8

2

115

340

340

200

всего листов 9

Наименова

ние

характерис

тик

Значения характеристик для моделей

EDX

600

EDX

880

ED

X

180

0B

EDX

3000

EDX

3200S

PLUS

ED

X

360

0

EDX

3600B

ED

X

360

0H

ED

X

600

0B

SUP

ER

XRF

1050

EDX-

Portabl

e

ED

X

Poc

ket

Seri

es

SMART

100

WDX

200

WDX

400

SUPER

XRF

2040

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

16

17

Условия

эксплуата

ции:

температура окружающего

о/~'

воздуха, С

от 15 до 30

от

10

до

30

от 15 до 30

относите

льная

влажность

воздуха,

%, не более

70

90

70

Знак утверждения типа

наносится на переднюю панель спектрометра методом наклейки и на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

Наименование

Количество, шт.

Спектрометр

1

Программное обеспечение

1

Руководство по эксплуатации на спектрометр

1

Руководство по эксплуатации на программное обеспечение

1

Методика поверки МП 96-241-2014

1

Поверка

осуществляется по документу МП 96-241-2014 «ГСИ. Спектрометры рентгенофлуоресцентные Skyray. Методика поверки», утвержденному ФГУП «УНИИМ» в ноябре 2014 г.

Эталонные средства измерений, используемые при поверке:

-    стандартные образцы состава сталей углеродистых и легированных ГСО 2489-91П -2497-91П (комплект УГ0д - УГ9д), массовая доля элементов от 0,002 до 1,85 %, абс. погрешность ± (0,001 -0,01) %;

-    стандартный образец состава порошка железного типа ПЖВ3 ГСО 3011-2002 (массовая доля железа 99,1 %, абс. погрешность ± 0,1 %; массовая доля марганца 0,329 %, абс. погрешность ± 0,005 %; массовая доля кремния 0,060 %, абс. погрешность ± 0,002 %);

-    стандартный образец состава меди ГСО 8096-2002 комплект МБ (массовая доля элементов от 3 10-5 до 0,2 %, абс. погрешность ± (3 10-5 - 0,007) %).

Сведения о методах измерений

Методика измерений представлена в руководстве по эксплуатации.

Нормативные и технические документы, распространяющиеся на спектрометры рентгенофлуоресцентные Skyray

Техническая документация изготовителя «Skyray Instruments», США.

Рекомендации к применению

Вне сферы государственного регулирования обеспечения единства измерений.

Развернуть полное описание