Системы тестовые для контроля интегральных схем и дискретных полупроводниковых компонентов на основе системы контрольно-измерительной Тестера СБИС FORMULA HF3-512 — Полная Информация из справочника ФГИС «АРШИН» (ФГИС Росстандарта)

Системы тестовые для контроля интегральных схем и дискретных полупроводниковых компонентов на основе системы контрольно-измерительной Тестера СБИС FORMULA HF3-512

Основные
Тип
Год регистрации 2014
Дата протокола Приказ 416 п. 35 от 03.04.2014
Срок действия сертификата ..
Страна-производитель  Россия 
Тип сертификата (C - серия/E - партия) E