Системы анализа микроструктуры объектов AXALIT

Основные
Тип
Зарегистрировано поверок 205
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Найдено поверителей 17

Назначение

Системы анализа микроструктуры объектов AXALIT (далее - системы) предназначены для измерения линейных размеров объектов на изображениях, полученных с видеокамер микроскопа с помощью программного обеспечения.

Описание

Принцип действия систем основан на получении изображений структуры поверхности объекта в заданном масштабе при помощи микроскопа, их фиксации цифровой видеокамерой и последующем анализе изображений с помощью программного обеспечения.

Система представляет собой комплекс программно-аппаратных средств, состоящий из микроскопа, цифровой видеокамеры с разрешением не ниже 2720x2048, адаптера для цифровой видеокамеры, USB кабеля для передачи изображения на персональный компьютер и специального программного обеспечения «AXALIT», позволяющего проводить измерения линейных размеров порошков, руд и микробиологических объектов.

Общий вид системы, обозначение нанесения знака поверки представлены на рисунке 1. Пломбирование систем не предусмотрено.

Программное обеспечение

Программное обеспечение (ПО) позволяет проводить контроль процесса измерений, осуществлять сбор экспериментальных данных, обрабатывать и сохранять полученные результаты.

Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Идентификационные данные программного обеспечения системы приведены в таблице 1.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

AXALIT

Номер версии (идентификационный номер) ПО

2017.3

Цифровой идентификатор ПО

-

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристик

Значения

характеристик

Диапазон измерений линейных размеров, мкм

от 0 до 2000

Пределы допускаемой абсолютной основной погрешности измерений линейных размеров ( АО ), мкм

± 0,5

Пределы допускаемой абсолютной дополнительной погрешности измерений линейных размеров от изменения температуры окружающей среды в диапазоне рабочих температур ( А д )*, мкм

± 0,5

Нормальные условия измерений:

- температура окружающей среды, °С

от +15 до +25

* пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров вне диапазона нормальных условий измерений оценивают по формуле А = ±( АО + Ад).

Таблица 3 - Технические характеристики

Наименование характеристик

Значения характеристик

Г абаритные размеры, мм, не более

- высота

1000

- ширина

1000

- длина

2000

Масса, кг, не более

70

Условия эксплуатации:

о/'ч

- температура окружающей среды, С

от +10 до +35

- относительная влажность, %, не более

70

Параметры электрического питания:

- напряжение переменного тока, В

220±22

- частота переменного тока, Гц

50/60

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства пользователя типографским способом. Комплектность средства измерений

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

1

2

3

Система анализа микроструктуры объектов в соответствии с заказом:

AXALIT

1 шт.

- персональный компьютер

-

по заказу

- оптический микроскоп

-

по заказу

-    цифровая видеокамера с адаптером

-    программное обеспечение

AXALIT

по заказу 1 шт.

Паспорт системы анализа микроструктуры объектов AXALIT

-

1 экз.

Руководство пользователя

РП

1 экз.

Методика поверки

МП 130-251-2017

1 экз.

Поверка

осуществляется по документу МП 130-251-2017 «ГСИ. Системы анализа микроструктуры объектов AXALIT. Методика поверки», утвержденному ФГУП «УНИИМ» 15.09.2017 г.

Основные средства поверки:

-    эталон единицы длины 1-го разряда 2-й части поверочной схемы по ГОСТ Р 8.763-2011 в диапазоне значений от 0 до 1 мм;

-    эталон единицы длины 2-го разряда 2-й части поверочной схемы по ГОСТ Р 8.763-2011 в диапазоне значений от 0 до 2 мм.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых средств измерений с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на лицевую часть оптического микроскопа, как показано на рисунке 1, и на свидетельство о поверке в виде оттиска поверительного клейма.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационном документе.

Нормативные документы

Технические условия «Система анализа микроструктуры объектов AXALIT. Технические условия. ТУ 26.70.22-001-11486796-2017»

Развернуть полное описание