Объект-микрометры ОМ

Основные
Тип
Зарегистрировано поверок 441
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Найдено поверителей 16

Назначение

Объект-микрометры ОМ-О (для отраженного света) и ОМ-П (для проходящего света) (далее - ОМ) предназначены для определения увеличения линейного поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток.

Описание

Принцип действия ОМ - измерение длины методом сравнения путем наложения изображения его шкалы на измеряемый объект.

ОМ представляет собой стеклянную пластину прямоугольного сечения. Шкаловая поверхность расположена в центре пластины. На шкаловой поверхности методом фотолитографии нанесены штрихи: позитив (для проходящего света) или негатив (для отраженного света). Справа и слева от основной шкалы нанесено не менее двух штрихов с тем же шагом. Внешний вид ОМ представлен на рисунке 1.

ом-п 0.005 мн

N 173 2004г.

И    0.005 мм

N 030 2004г.

Рисунок 1 - Внешний вид ОМ (слева - Объект-микрометр ОМ-О, справа - Объект-микрометр ОМ-П)

Технические характеристики

приведены в таблице 1.

Таблица 1

Длина основной шкалы, мм

1,0000±0,0005

Количество интервалов основной шкалы

200

Расстояние между серединами соседних штрихов первых 10 делений шкалы ОМ, мм

0,0050±0,0003

Пределы допускаемой абсолютной погрешности ОМ, мм

±0,0001

Ширина штрихов шкалы, мм

0,0020±0,0005

Г абаритные размеры (без футляра), мм, не более

80х30х3

Масса (без футляра), кг, не более

0,035

Средний срок службы, лет, не менее

6

Условия эксплуатации по категории УХЛ 4.2 ГОСТ 15150-69 со следующими уточнениями:

- температура окружающей среды, °С

от +15 до +35

- верхнее значение относительной влажности при 25 °С, %

80

Знак утверждения типа

наносится на поверхность ОМ методом фотолитографии и на титульный лист паспорта типографским способом.

Комплектность

Комплектность ОМ приведена в таблице 2.

Обозначение

Наименование

Количество

Примечание

ДДШ 4.161.014

Объект-микрометр

1 шт.

ДДШ 6.876.071

Футляр

1 шт.

ДДШ 4.170.033

Упаковка

1 шт.

ДДШ 4.161.014 ПС

Паспорт

1 экз.

ДДШ 4.161.014 МП

Методика поверки

1 экз.

Поверка

осуществляется по документу ДДШ 4.161.014 МП «Объект-микрометры ОМ. Методика поверки», утвержденному ФГУП «СНИИМ» в феврале 2016 г.

Основные средства поверки:

-    Государственный вторичный эталон единицы длины в диапазоне от 0 до 1000 мм ВЭТ 2-14-59 в соответствии с частью 2 ГОСТ Р 8.763-2011 ПГ ±(0,05+0,1L) мкм, где L - длина в м;

-    Государственный вторичный эталон единицы длины в диапазоне от 0,001 до 0,200 мм ВЭТ 2-25-91 в соответствии с частью 2 ГОСТ Р 8.763-2011 ПГ ±(0,03+0,1L) мкм, где L - длина в м.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационном документе.

Нормативные документы

ГОСТ Р 8.763-2011 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 110-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм»

ТУ 4381-018-02566540-2004 Объект-микрометры. Технические условия

Развернуть полное описание