Назначение
Объект-микрометры ОМ-О (для отраженного света) и ОМ-П (для проходящего света) (далее - ОМ) предназначены для определения увеличения линейного поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток.
Описание
Принцип действия ОМ - измерение длины методом сравнения путем наложения изображения его шкалы на измеряемый объект.
ОМ представляет собой стеклянную пластину прямоугольного сечения. Шкаловая поверхность расположена в центре пластины. На шкаловой поверхности методом фотолитографии нанесены штрихи: позитив (для проходящего света) или негатив (для отраженного света). Справа и слева от основной шкалы нанесено не менее двух штрихов с тем же шагом. Внешний вид ОМ представлен на рисунке 1.
ом-п 0.005 мн
N 173 2004г.
И 0.005 мм
N 030 2004г.
Рисунок 1 - Внешний вид ОМ (слева - Объект-микрометр ОМ-О, справа - Объект-микрометр ОМ-П)
Технические характеристики
приведены в таблице 1.
Таблица 1
| Длина основной шкалы, мм | 1,0000±0,0005 |
| Количество интервалов основной шкалы | 200 |
| Расстояние между серединами соседних штрихов первых 10 делений шкалы ОМ, мм | 0,0050±0,0003 |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности ОМ, мм | ±0,0001 |
| Ширина штрихов шкалы, мм | 0,0020±0,0005 |
| Г абаритные размеры (без футляра), мм, не более | 80х30х3 |
| Масса (без футляра), кг, не более | 0,035 |
| Средний срок службы, лет, не менее | 6 |
| Условия эксплуатации по категории УХЛ 4.2 ГОСТ 15150-69 со следующими уточнениями: |
| - температура окружающей среды, °С | от +15 до +35 |
| - верхнее значение относительной влажности при 25 °С, % | 80 |
Знак утверждения типа
наносится на поверхность ОМ методом фотолитографии и на титульный лист паспорта типографским способом.
Комплектность
Комплектность ОМ приведена в таблице 2.
| Обозначение | Наименование | Количество | Примечание |
| ДДШ 4.161.014 | Объект-микрометр | 1 шт. | |
| ДДШ 6.876.071 | Футляр | 1 шт. | |
| ДДШ 4.170.033 | Упаковка | 1 шт. | |
| ДДШ 4.161.014 ПС | Паспорт | 1 экз. | |
| ДДШ 4.161.014 МП | Методика поверки | 1 экз. | |
Поверка
осуществляется по документу ДДШ 4.161.014 МП «Объект-микрометры ОМ. Методика поверки», утвержденному ФГУП «СНИИМ» в феврале 2016 г.
Основные средства поверки:
- Государственный вторичный эталон единицы длины в диапазоне от 0 до 1000 мм ВЭТ 2-14-59 в соответствии с частью 2 ГОСТ Р 8.763-2011 ПГ ±(0,05+0,1L) мкм, где L - длина в м;
- Государственный вторичный эталон единицы длины в диапазоне от 0,001 до 0,200 мм ВЭТ 2-25-91 в соответствии с частью 2 ГОСТ Р 8.763-2011 ПГ ±(0,03+0,1L) мкм, где L - длина в м.
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.
Сведения о методах измерений
приведены в эксплуатационном документе.
Нормативные документы
ГОСТ Р 8.763-2011 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 110-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм»
ТУ 4381-018-02566540-2004 Объект-микрометры. Технические условия
28962-16: Методика поверки ДДШ 4.161.014 МПСкачать468.2 Кб
