Назначение
Микроскопы видеоизмерительные ВИМ (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также определения взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
Описание
Микроскопы конструктивно состоят из гранитного основания, подвижного предметного стола, вертикальной колонны с оптоэлектронным измерительным блоком, включающим оптическую систему, датчик и осветитель, и персонального компьютера.
Принцип действия микроскопов основан на считывании с электронных измерительных шкал осей X, Y значений перемещения подвижного предметного стола или портала и с измерительной шкалы оси Z значений перемещения оптоэлектронного измерительного блока или считывание координат контактным методом. При измерениях по оси Z предусмотрена функция автофокусировки. Результаты измерений отображаются на мониторе персонального компьютера. Измерения проводятся в ручном, автоматическом или полуавтоматическом режимах.
Микроскопы выпускаются двух моделей:
- консольной в следующих модификациях ВИМ 150, ВИМ 200, ВИМ 250, ВИМ 250ПА, ВИМ 250А, ВИМ 250К, ВИМ 250ПАК, ВИМ 250АК, ВИМ 300, ВИМ 300ПА, ВИМ 300А, ВИМ 300К, ВИМ 300ПАК, ВИМ 300АК, ВИМ 400, ВИМ 400ПА, ВИМ 400А, ВИМ 400К, ВИМ 400ПАК, ВИМ 400АК, ВИМ 500, ВИМ 500ПА, ВИМ 500А, ВИМ 500К, ВИМ 500ПАК, ВИМ 500АК;
- портальной в следующих модификациях ВИМ 500А, ВИМ 500АК, ВИМ 700А, ВИМ 700АК, ВИМ 800А, ВИМ 800АК, ВИМ 1000А, ВИМ 1000АК, ВИМ 1200А, ВИМ 1200АК, ВИМ 1500А, которые отличаются диапазонами измерений в направлении осей X и Y, согласно таблиц 1, 2 и 3, наличием органов ручного, автоматического или полуавтоматического управления, оснащением контактным датчиком для измерений в направлении оси Z.
Фокусировка на измеряемом объекте в направлении оси Z и перемещение предметного стола в направлении осей X и Y микроскопов модификаций ВИМ 150, ВИМ 150К, ВИМ 250, ВИМ 250К, ВИМ 300, ВИМ 300К, ВИМ 400, ВИМ 400К, ВИМ 500, ВИМ 500К осуществляется вручную с помощью колеса микроподачи на вертикальной колонне и предметном столе.
У микроскопов модификаций ВИМ 250ПА, ВИМ 250ПАК, ВИМ 300ПА, ВИМ 300ПАК, ВИМ 400ПА, ВИМ 400ПАК, ВИМ 500ПА, ВИМ 500ПАК фокусировка на измеряемом объекте, осуществляется с помощью пульта управления или функций программного обеспечения, в направлении оси Z, перемещение предметного стола в направлении осей X и Y осуществляется вручную с помощью колеса микроподачи на предметном столе.
Фокусировка на измеряемом объекте в направлении оси Z и перемещение предметного стола в направлении осей X и Y микроскопов модификаций ВИМ 250А, ВИМ250АК, ВИМ300А, ВИМ300АК, ВИМ400А, ВИМ400АК ВИМ500А, ВИМ500АК осуществляется с помощью пульта управления или с помощью функций программного обеспечения.
Фокусировка на измеряемом объекте в направлении оси Z, перемещение колонны с объективом в направлении оси X и движение портала в направлении оси Y микроскопов модификаций ВИМ 500А, ВИМ 500АК, ВИМ 700А, ВИМ 700АК, ВИМ 800А, ВИМ 800АК, ВИМ 1000А, ВИМ 1000АК, ВИМ 1200А, ВИМ 1200АК, ВИМ 1500А, осуществляется с помощью пульта управления или с помощью функций программного обеспечения.
По заказу микроскопы любой модификации могут выпускаться в исполнениях «В» - высокоточный и «ВВ» - с повышенной точностью.
Микроскопы имеют обозначение ВИМ 1 2 3 _4_, где:
1 - верхняя граница наибольшего из диапазонов измерений в направлении осей Х и Y;
2 - исполнение, имеющее высокую или повышенную точность (В - высокоточный или ВВ с повышенной точностью (при наличии));
3 - тип управления (ПА - полуавтоматическое (моторизированная ось Z), А - полностью автоматическое);
4 - контактная система (К - при наличии контактного щупа).
Нанесение знака поверки на средство измерений не предусмотрено. Серийный номер и буквенно-цифровые обозначения модификации микроскопа, которые идентифицируют каждый экземпляр, состоят из арабских цифр и букв латинского алфавита и наносятся на металлические таблички прямоугольной формы. Постоянные надписи маркировки на табличке выполнены фотохимическим способом, а переменные надписи выполнены ударным способом.
Общий вид микроскопов видеоизмерительных ВИМ, схема пломбировки от несанкционированного доступа, обозначение места нанесения табличек с серийными номерами и буквенно-цифровыми обозначениями модификаций представлены на рисунках 1,2.
Место пломбиробки Место нанесения табличек
“ ' ' с серийными номерами и
х дукЬенно-цифровыми обозначениями
а) микроскоп консольной модели с ручным управлением
Программное обеспечение
Микроскопы оснащаются программным обеспечением (ПО) FodiSoft или Sinpo, представляющим собой программный пакет, устанавливаемый на персональный компьютер, микроскопов, ПО FodiSoft в отличие от ПО Sinpo имеет дополнительные функции и поставляется опционально.
ПО микроскопов предназначено для отображения результатов измерений, а также для сбора, обработки и хранения измерительной информации.
ПО устанавливается при выпуске из производства и может быть переустановлено в процессе эксплуатации с установочного компакт-диска, входящего в комплект поставки, с применением специального защитного USB-ключа.
Идентификация программного обеспечения осуществляется путем просмотра идентификационных данных ПО на мониторе персонального компьютера при включении микроскопа.
Уровень защиты ПО и измерительной информации микроскопов от непреднамеренных и преднамеренных изменений «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
| Идентификационные данные (признаки) | Значение |
| Идентификационное наименование ПО | FodiSoft | Sinpo |
| Номер версии (идентификационный номер) ПО | не ниже 30.34 | не ниже 5.3 |
| Цифровой идентификатор ПО | отсутствует | отсутствует |
Технические характеристики
Таблица 2 - Метрологические характеристики микроскопов видеоизмерительных ВИМ консольной модели с верхним пределом измерений в направлении оси Х до 300 мм_
Значение для модификаций
<
о
in
<N
<
о
о
m
<
о
in
<N
s
s
pq
<
о
о
m
о
in
о
о
(N
о
1П
<N
о
о
о
1П
<N
о
о
Наименование характеристики
о
in
<N
о
о
о
in
<N
о
о
к
со
К
со
s
pq
s
pq
s
pq
s
pq
s
pq
s
pq
s
pq
s
pq
s
pq
s
pq
s
pq
от 0 до 150 от 0 до 100 от 0 до 100
от 0 до 200 от 0 до 100 от 0 до 200
от 0 до 250 от 0 до 150 от 0 до 200
от 0 до 300 от 0 до 200 от 0 до 200
Диапазон измерений длины, мм
- по оси X
- по оси Y
- по оси Z
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины1 мкм
- в направлении одной оси (X; Y)
±(2,9+L*/200)
±(10+L/25)
±(2,9+L/100)
±(1,9+L/200)
±(10+L/25)
±(1,9+L/100)
- в направлении оси Z при измерении автофокусом
- в направлении оси Z при измерении контактной системой
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «В», мкм**
- в направлении одной оси (X; Y)
- в направлении оси Z при измерении автофокусом
- в направлении оси Z при измерении контактной системой
Значение для модификаций
<
0
in
<N
<
0
0
3
0
0
in
<N
0
0
<
0
in
<N
о
о
(N
0
1П
<N
0
0
3
0
0
3
0
in
<N
0
0
3
Наименование характеристики
0
in
<N
0
0
И
со
И
СО
И
pq
И
pq
И
pq
И
pq
И
pq
И
pq
И
pq
И
pq
И
pq
И
pq
И
pq
И
pq
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «ВВ», мкм2
- в направлении одной оси (X; Y)
±(1,4+L/100)
±(10+L/25)
±(1,9+L/100)
0,0001
от 0° до 360°
1''
± 20''
- в направлении оси Z при измерении автофокусом
- в направлении оси Z при измерении контактной системой
Цена единицы наименьшего разряда при измерении длины, мм, не более
Диапазон измерений плоского угла
Цена единицы наименьшего разряда при измерении плоского угла
Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении плоского угла**_
Значение для модификаций
<
о
о
<
о
о
in
<
о
о
in
<
о
о
<
о
о
<
о
о
in
о
о
о
о
о
о
о
о
о
о
1П
о
о
in
Наименование характеристики
о
о
о
о
1П
о
о
in
о
о
о
о
in
о
о
к
со
К
со
К
со
к
со
S
со
S
со
S
со
к
со
S
со
S
со
S
со
к
со
К
со
к
со
к
со
S
со
S
со
S
со
от 0 до 400 от 0 до 300 от 0 до 200
от 0 до 500 от 0 до 300 от 0 до 200
от 0 до 500 от 0 до 400 от 0 до 200
Диапазон измерений длины, мм
- по оси X
- по оси Y
- по оси Z
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины, мкм
- в направлении одной оси (X; Y)
±(2,9+L3/200)
±(10+L/25)
±(2,9+L/100)
±(1,9+L/200)
±(10+L/25)
±(1,9+L/100)
- в направлении оси Z при измерении автофокусом
- в направлении оси Z при измерении контактной системой
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «В», мкм
- в направлении одной оси (X; Y)
- в направлении оси Z при измерении автофокусом
- в направлении оси Z при измерении контактной системой
Значение для модификаций
<
0
0
4
0
0
0
0
0
0
0
0
4
0
0
5
0
0
5
0
0
5
0
0
5
0
0
4
0
0
0
0
5
0
0
4
0
0
5
0
0
5
Наименование характеристики
0
0
4
0
0
5
0
0
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
И
В
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «ВВ», мкм
- в направлении одной оси (X; Y)
±( 1,4+L/100) ±(10+L/25) ±(1,9+L/100)
0,0001
от 0° до 360°
1''
± 20''
- в направлении оси Z при измерении автофокусом
- в направлении оси Z при измерении контактной системой
Цена единицы наименьшего разряда при измерении длины, мм, не более
Диапазон измерений плоского угла
Цена единицы наименьшего разряда при измерении плоского угла_
Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении плоского угла
Таблица 4 - Метрологические характеристики микроскопов видеоизмерительных ВИМ портальной модели
Значение для модификаций
<
0
0
0
с
0
0
5
с
0
0
Г"
<
0
0
oo
0
0
2
0
0
5
с
0
0
<
0
0
<
0
0
oo
0
0
0
0
0
2
0
0
5
Наименование характеристики
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
от 0 до 800 от 0 до 1000 от 0 до 200
от 0 до 500 от 0 до 400 от 0 до 200
от 0 до 600 от 0 до 700 от 0 до 200
от 0 до 600 от 0 до 800 от 0 до 200
от 0 до 1 000 от 0 до 1 200 от 0 до 200
от 0 до 1 200 от 0 до 1 500 от 0 до 200
Диапазон измерений длины, мм
- по оси X
- по оси Y
- по оси Z
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины, мкм
- в направлении одной оси (X; Y)
±(2,8+L*/250)
±(10+L/25)
±(5+L/200)
±(2,5+L/200)
±(10+L/25)
±(4,5+L/150)
±(2,0+L/150)
±(10+L/25)
±(4,0+L/100)
- в направлении оси Z при измерении автофокусом
- в направлении оси Z при измерении контактной системой
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «В», мкм
- в направлении одной оси (X; Y)
- в направлении оси Z при измерении автофокусом
- в направлении оси Z при измерении контактной системой
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «ВВ», мкм
- в направлении одной оси (X; Y)
- в направлении оси Z при измерении автофокусом
- в направлении оси Z при измерении контактной системой
Значение для модификаций
<
0
0
<
0
0
Г"
<
0
0
ОС
<
0
0
0
<
0
0
2
<
0
0
5
0
0
0
0
0
2
0
0
5
С
0
0
5
0
0
г-~
0
0
ОС
Наименование характеристики
К
В
к
В
S
В
S
В
S
В
S
В
S
В
S
В
к
В
S
В
S
В
S
В
Цена единицы наименьшего разряда при измерении длины, мм, не более
Диапазон измерений плоского угла
Цена единицы наименьшего разряда при измерении плоского угла_
Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении плоского угла
0,0001
от 0° до 360°
1"
± 20''
| Наименование характеристики | Значение для модификаций |
| 0 5 Я И В | ВИМ 200 | ВИМ 250 | 0 5 (N S И В | 0 5 (N М И В | М А К с га £ 2 | А 0 5 (N S И В | А 0 5 (N М И В | ВИМ 300 | ВИМ 300К | 0 0 го М И В | К М А К с м о 3 | ВИМ 300А | ВИМ 300АК |
| Г абаритные размеры, мм, не более - длина - ширина - высота | 480 460 620 | 550 460 620 | 600 700 870 | 1200 700 1540 | 860 802 1738 | 600 700 870 | 1200 700 1540 | 860 802 1738 |
| Масса, без дополнительного оборудования, кг, не более | 40 | 110 | 230 | 330 | 250 | 350 |
| Максимальная равнораспределенная нагрузка на предметный стол, кг, не более | 10 | 20 | 30 |
| Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Г ц, не более | 220±22 50 |
| Потребляемая мощность, В А, не более | 400 (с ручным управлением)/500 (с автоматическим и полуавтоматическим управлением) |
| Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С - относительная влажность, % | от +15 до +25 от 20 до 80 |
| Средний срок службы, лет, не менее | 12 |
| Средняя наработка на отказ, ч | 11000 |
Значение для модификаций
с
0
0
4
<
0
0
5
<
0
0
5
0
0
4
0
0
0
0
с
0
0
4
0
0
4
0
0
5
0
0
5
0
0
0
0
0
0
4
0
0
5
0
0
5
Наименование характеристики
В
В
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
s
В
Г абаритные размеры, мм, не более
- длина
- ширина
- высота
910
985
960
1500
985
1630
960
902
1768
1100
1000
1150
1600
1000
1650
1100
1000
1650
1150
1050
1200
1700
1000
1650
1150
1050
1650
Масса, без дополнительного оборудования, кг, не более
400
500
550
650
600
700
Максимальная равнораспределенная нагрузка на предметный стол, кг, не более
30
220±22
50
Параметры электрического питания:
- напряжение переменного тока, В
- частота переменного тока, Г ц, не более
400 (с ручным управлением)/500 (с автоматическим и полуавтоматическим управлением)
Потребляемая мощность, В А, не более
Условия эксплуатации:
- температура окружающей среды,
- относительная влажность, %
от +15 до +25 от 20 до 80
Средний срок службы, лет, не менее
12
11000
Средняя наработка на отказ, ч
Таблица 7 - Основные технические характеристики микроскопов видеоизмерительных ВИМ портальной модели
| Наименование характеристики | Значение для модификаций |
| С 0 0 5 S к В | А 0 0 1П S К В | с 0 0 Г" S к В | А 0 0 Г" S к В | < 0 0 ОС S к В | А 0 0 ос S S В | < 0 0 0 S S В | А 0 0 о S S со | < 0 0 2 S S В | А 0 0 (N S S со | < 0 0 5 S S В | А 0 0 in S S со |
| Г абаритные размеры, мм, не более | | | | | | | | | | | | |
| - длина | 1200 | 1300 | 1550 | 1700 | 1900 | 2100 |
| - ширина | 1150 | 1250 | 1450 | 1650 | 1850 | 2050 |
| - высота | 1900 | 1900 | 1900 | 1900 | 1900 | 1900 |
| Масса, без дополнительного оборудования, | 700 | 900 | 1300 | 1700 | 2100 | 2500 |
| кг, не более | | | | | | | | | | | | |
| Максимальная равнораспределенная | | | | | | 75 | | | | | |
| нагрузка на предметный стол, кг, не более | | | | | | | | | | | | |
| Параметры электрического питания: | | | | | | | | | | | | |
| - напряжение переменного тока, В | | | | | | 220±22 | | | | | |
| - частота переменного тока, Г ц, не более | | | | | | 60 | | | | | |
| Потребляемая мощность, В А, не более | 500 |
| Условия эксплуатации: | | | | | | | | | | | | |
| - температура окружающей среды, °С | | | | | | от +15 до +25 | | | | | |
| - относительная влажность, % | | | | | | от 20 до 80 | | | | | |
| Средний срок службы, лет, не менее | 12 |
| Средняя наработка на отказ, ч | 11000 |
Знак утверждения типа
наносится фотохимическим способом на металлическую табличку прямоугольной формы рядом с идентификационными данными микроскопа, а также типографским способом на титульные листы паспорта и руководства по эксплуатации.
Комплектность
Таблица 8 - Комплектность средства измерений
| Наименование комплектующих | Обозначение | Количество |
| Микроскоп видеоизмерительный | ВИМ | 1 шт. |
| Паспорт | | 1 экз. |
| Руководство по эксплуатации | | 1 экз. |
| Руководство оператора | | 1 экз. |
| Методика поверки | МП 45-233-2020 | 1 экз. |
| Программное обеспечение FodiSoft или Sinpo*, компакт-диск | - | 1 шт. |
| * вид программного обеспечения определяется при заказе |
Сведения о методах измерений
приведены в разделе 7 Измерения. Руководства по эксплуатации «Микроскопы видеоизмерительные ВИМ».
Нормативные документы
Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 110'9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм, утверждена приказом Росстандарта № 2840 от 29 декабря 2018 г.
ТУ 26.70.22-001-36088358-2019 Микроскопы видеоизмерительные ВИМ. Технические условия
1
- где L - измеряемая длина, мм;
2
- Пределы допускаемой абсолютной погрешности указаны при увеличении 4,5 крат и выше.
3
- где L - измеряемая длина,
82381-21: Методика поверки МП 45-233-2020Скачать10.0 Мб
