Назначение
Микроскопы оптические инспекционные Eclipse L200N (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров функциональных нано- и микроструктур различной природы, а также получение изображений их внешнего вида.
Описание
Принцип действия микроскопа основан на измерении линейных размеров объекта, увеличенное изображение которого выводится на монитор подключенного персонального компьютера (далее - ПК) с помощью системы, состоящей из сменных объективов и цифровой камеры. Объект изучения помещается на предметный стол под объектив, где он освещается с помощью встроенного источника света. Кратность увеличения микроскопа регулируется установкой объективов различного увеличения в рабочее положение с помощью устройства револьверного типа.
К средствам измерений данного типа относятся микроскопы двух исполнений, отличающихся внешним видом и обозначением цифровой камеры: микроскоп с цифровой камерой DS-Fi2 зав. № 321434 и микроскоп с цифровой камерой DS-Ri2 зав. № 321070.
Заводской номер в формате цифрового обозначения, состоящего из арабских цифр, нанесен на заднюю часть корпуса микроскопов методом печати на наклейке. Общий вид наклеек приведен на рисунках 1а и 1б.
Возможность нанесения знака поверки на средство измерений отсутствует.
Пломбирование микроскопов от несанкционированного доступа не предусмотрено.
Общий вид микроскопов приведен на рисунках 2 и 3.
б) Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200N с цифровой камерой DS-Ri2
а) Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200N с цифровой камерой DS-Fi2
Рисунок 1 - Общий вид наклеек
Место нанесения заводского номера
Рисунок 2 - Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200N с цифровой камерой DS-Ri2 зав. № 321070
Место нанесения заводского номера
Рисунок 3 - Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200N с цифровой камерой DS-Fi2 зав. № 321434
Программное обеспечение
Микроскопы имеют программное обеспечение (далее - ПО), встроенное в аппаратное устройство операторского персонального компьютера, предназначенное для управления, передачи и обработки результатов измерений. ПО соответствует среднему уровню защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с Р 50.2.077-2014. Идентификационные данные ПО приведены в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные ПО
| Идентификационные данные (признаки) | Значение |
| Идентификационное наименование ПО | NIS-Elements |
| Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже | 4.30.02 |
| Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) | _ |
Технические характеристики
Таблица 2 - Метрологические характеристики
| Наименование характеристики | Значение для исполнений |
| с цифровой камерой DS-Ri2 зав. № 321070 | с цифровой камерой DS-Fi2 зав. № 321434 |
| Диапазон измерений линейных размеров, мкм: - по оси X - по оси Y | от 0,5 до 2400 от 0,5 до 1600 | от 0,5 до 2500 от 0,5 до 1700 |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм | ±(0,3+0,03Ъ), где L- измеряемое значение длины в мкм |
Таблица 3 - Технические характеристики
| Наименование характеристики | Значение |
| Максимальное разрешение, мкм | 0,40 |
| Параметры электрического питания: | |
| - напряжение переменного тока, В | от 220 до 240 |
| - частота переменного тока, Гц | от 50 до 60 |
| - потребляемая мощность, Вт | 100 |
| Габаритные размеры, мм, не более: | |
| - длина | 951 |
| - ширина | 581 |
| - высота | 360 |
| Масса, кг, не более | 64 |
| Условия эксплуатации: | |
| - диапазон температуры окружающего воздуха, °С; | от +15 до +30 |
| - относительная влажность воздуха, без конденсата, %, не более | 85 |
| Ресурс источника света, ч, не менее | 1100 |
Знак утверждения типа
наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.
Комплектность
Таблица 4 - Комплектность
| Наименование | Обозначение | Количество |
| Микроскоп оптический инспекционный | Eclipse L200N | 1 шт. |
| ПК с предустановленным ПО | - | 1 шт. |
| Сменные объективы | 5х,10х,20х,50х,100х,150х | 6 шт. |
| Технологическая инструкция | Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND / L200N | 1 экз. |
Сведения о методах измерений
приведены в разделе 8 «Микроскопия» Технологическая инструкция «Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND / L200N».
Нормативные документы
Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1-10-9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм, утвержденная приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 29 декабря 2018 г. № 2840.
