Микроскопы электронные просвечивающие Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300

Основные
Тип Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300
Год регистрации 2009
Дата протокола 08д от 16.07.09 п.183
Класс СИ 27.01
Номер сертификата 35991
Срок действия сертификата 01.08.2014
Страна-производитель  Нидерланды 
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С

Назначение

Микроскопы электронные просвечивающие моделей Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300 (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров объектов, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов. Области применения: биология, физика твёрдого тела, материаловедение, геология и другие отрасли науки и техники.

Описание

Микроскопы являются автоматизированными многоцелевыми аналитическими приборами, созданными на основе многолинзовой электронно-оптической системы, которые в базовой комплектации обеспечивают:

- получение увеличенных изображений объектов с разрешением, близким к размерам атомов;

- измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображениях;

- автоматизированное фотографирование изображений;

- преобразование изображений в цифровую форму с возможностью их регистрации и обработки.

Микроскоп состоит из электронно-оптической колонны, содержащей электронную пушку и три блока электронных линз (осветительный, формирующий изображение и проекционный). Первый из них составлен из двух линз. Основным элементом второго блока является объективная линза, в которую путем шлюзования вводится объектодержатель с объектом. Прецизионное перемещение последнего относительно оптической оси колонны обеспечивается посредством управляемого от рабочей станции электромеханического привода или с помощью манипуляторов вручную. Объективная линза дополнена диафрагмой, положением которой можно управлять. Блок, формирующий изображение, содержит промежуточные линзы, которые позволяют, в частности, получать картины электронной дифракции. Блок проекционных линз обеспечивает требуемое увеличение изображений.

На нижней части колонны установлена камера с флуоресцентным экраном, в которой выполнены окна для наблюдения изображения. Над центральным окном установлен оптический бинокулярный микроскоп, который обеспечивает просмотр фрагментов изображения на экране и фокусировку. Под экраном находится магазин для размещения фотопластинок или пленок, который оснащен устройствами для автоматизированной фотосъемки прямым электронным экспонированием.

Микроскоп может оснащаться следующими объективными линзами Twin, BiO Twin, S-Twin, X-Twin, U-Twin, C-Twin.

Управление работой микроскопов осуществляется с помощью рабочей станции на базе специализированного компьютера, работающего с использованием программного обеспечения в операционной системе Windows.

Толщина объектов, исследуемых методами просвечивающей электронной микроскопии, составляет доли микрометра.

Принцип действия микроскопа основан на том, что электроны, испускаемые катодом, ускоряются электронной пушкой и сводятся в пучок, который дополнительно фокусируется конденсорными линзами и проецируется на объект. В его плоскости диаметр пучка можно варьировать от долей нанометра до десятков микрометров. При прохождении через объект параллельного пучка быстрых электронов происходит их рассеяние на неоднородностях структуры или состава исследуемого объекта. В плоскости изображения объективной линзы, расположенной непосредственно за образцом, формируется действительное изображение объекта, а в её фокальной плоскости формируется дифракционная картина, каждая точка которой соответствует определённому углу выхода электронов из образца. Одним из основных способов получения контраста на изображении является ввод апертурной диафрагмы в фокальную плоскость объективной линзы. При этом вклад в изображение дают только те электроны, которые претерпели рассеяние под углом, определённым фокусным расстоянием и размером апертурной диафрагмы. Чем больше электронов рассеялось в данной точке образца за пределы диафрагмы, тем темнее будет выглядеть эта точка на изображении. Помещая апертурную диафрагму в различные области фокальной плоскости, получают различные виды контраста. Это особенно важно в случае кристаллических образцов, для которых благодаря периодичности структуры возникают сильные неоднородности в распределении интенсивности на дифракционной картине - дифракционные максимумы. Вырезая с помощью апертурной диафрагмы тот или иной максимум, получают дополнительную информацию о структуре объекта.

Технические характеристики

Основные технические характеристики представлены в таблице 1.

Таблица 1

ХарактеЛ Модель ристики \исполнение

Morgagni 268

Tecnai G2

Titan 80-300

12, Spirit

20/F20

3O/F3O

Polara

Разрешающая способность, нм по точкам полиниям

0,45

0,34

0,20

0,14

Диапазон измерений линейных размеров, нм

5-1000

Диапазон регулировки увеличения, крат

25200000

18650000

25700000

58800000

58800000

200

1250000

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров, %

±10

Ускоряющее напряжение, кВ

100

120

200

300

Габаритные размеры, не более, мм

1700x850 х2350

2110x1360x2550

2140x1436 x2915

Масса, не более, кг

1000

1490, 1900

2200

2500

4770

Напряжение сети питания, В

220 +1Л2 -22

Потребляемая мощность, не более, кВ*А

2,6

5,5

6,8

8,8

11,5

Средний срок службы не менее 10 лет.

Условия эксплуатации представлены в таблице 2.

Таблица 2

Параметры

Модель\исполнение

Morgagni 268

Tecnai G2

Titan 80300

12, Spirit 20/F20 30/F30 Polara

Диапазон температуры окружающего воздуха, °C (в скобках - рекомендованное значение)

15-25 (23)

18-23 (20)

Относительная влажность при 20°С не более, %

80

ЗНАК УТВЕРЖДЕНЫ ТИПА

Знак утверждения типа наносится типографским способом на титульный лист паспорта.

Комплектность

Комплектность поставки приведена в таблице 3.

Таблица 3

Базовая комплектация

- рабочий стол с блоками управляющей электроники с электроннооптической колонной (консоль микроскопа), установленной на плавающей платформе, отделенной от станины пневматическими амортизаторами;

- вакуумная система с отдельно расположенным форвакуумным механическим насосом;

- стабилизированный источник напряжения;

- источники питания линз, встроенные в стойку;

- магазин для фотопластинок или пленок;

- бинокулярный оптический микроскоп,

- компрессор сжатого воздуха для управления пневмоклапанами;

- рабочая станция микроскопа на базе специализированного компьютера с дисплеем, клавиатурой и манипулятором «мышь»;

- программное обеспечение;

- комплект ЗИП и расходных материалов.

Дополнительное оборудование

- аппаратура цифрового преобразования изображений с целью их записи, обработки и распечатки;

- оборудование для реализации растрового режима работы на просвет и отражение;

- специализированные объектодержатели (для наклона объектов, а также их нагрева, охлаждения и других воздействий);

- система замкнутого водяного охлаждения.

Паспорт

Методика поверки

- поставляется по заказу.

Поверка

Поверка осуществляется в соответствии с документом «Микроскопы электронные просвечивающие моделей Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300. Методика поверки МП 2512-0009-2008», разработанным и утвержденным ГЦИ СИ "ВНИИМ им. Д.И.Менделеева" в декабре 2008 г.

Основные средства поверки: мера штриховая МШ-0,83, ТУ У 33.2-04799336-017-2005, образец монокристаллического графита с межплоскостным расстоянием 0,34 нм (фирма-изготовитель SPI Supplies/Structure Probe, Inc., SPI#02909-AB), образец поликристаллического золота с параметрами решетки 0,204 нм и 0,144 нм (фирма-изготовитель SPI Supplies/Structure Probe, Inc., SPI#02867-AB).

Межповерочный интервал 1 год.

Нормативные документы

Техническая документация фирмы-изготовителя «FEI Company», Нидерланды.

Заключение

Тип микроскопов электронных просвечивающих моделей Morgagni, Tecnai G2, Titan 80300 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, и метрологически обеспечен при ввозе в РФ, в эксплуатации и после ремонта.

Развернуть полное описание