Измерители RLC АКИП-6108, АКИП-6109

Основные
Тип АКИП-6108, АКИП-6109
Год регистрации 2014
Дата протокола Приказ 106 п. 52 от 12.02.2014
Срок действия сертификата 12.02.2019
Страна-производитель  Китай 
Тип сертификата (C - серия/E - партия) C

Назначение

Измерители RLC АКИП-6108, АКИП-6109 (далее измерители RLC) предназначены для измерений при синусоидальном напряжении следующих параметров элементов и цепей: электрической емкости и сопротивления, индуктивности, модуля полного сопротивления, тангенса угла диэлектрических потерь, добротности и угла фазового сдвига.

Описание

Принцип действия измерителей RLC основан на методе, связанном с использованием соотношений закона Ома на переменном токе. На измеряемый объект, обладающий комплексным сопротивлением, с внутреннего генератора подается тестовый сигнал с заданной частотой, и измеряются напряжение, ток и фазовый сдвиг между ними. Измеренные величины используются для определения параметров объекта.

Измерители RLC представляют собой приборы, выполненные на основе АЦП, аналоговых и цифровых схем измерений. На передней панели измерителей RLC расположены жидкокристаллический дисплей, кнопки управления и гнезда для подключения измерительных кабелей. Конструкция приборов рассчитана на их эксплуатацию в промышленных и лабораторных условиях.

Измерители RLC имеют 2 модификации (модели): АКИП-6108, АКИП-6109, различающиеся между собой значениями частот измерений.

Фотография общего вида измерителей RLC представлена на рисунке 1. Схема пломбировки от несанкционированного доступа изображена на рисунке 2.

V_У

Рисунок 2. Схема пломбировки измерителей RLC (вид сзади).

Технические характеристики

Измеряемые параметры:

Первичные:

R - активное электрическое сопротивление;

C - электрическая емкость;

L - индуктивность;

Z - модуль полного сопротивления.

Вторичные:

D - тангенс угла диэлектрических потерь;

Q - добротность;

0 - угол фазового сдвига.

Базовая погрешность измерений 0,1 %.

Измерение емкости С и тангенса угла диэлектрических потерь D

Частота

испыта

тельного

сигнала

Поддиапазон

измерений

Цена

единицы

младшего

разряда

Пределы абсолютной погрешности измерений

Эквивалентная

схема

измерений

С

D*

100 и 120 Гц

20 мФ

0,001 мФ

не нормируется

не нормир.

-

4 мФ

0,0001 мФ

не нормируется

не нормир.

-

400 мкФ

0,01 мкФ

±(0,015-Сх+0,02) мкФ

±0,0035

последовательная

40 мкФ

0,001 мкФ

±(0,015- Сх+0,002) мкФ

±0,001

последовательная

4 мкФ

0,0001 мкФ

±(0,002-Сх+0,0002) мкФ

±0,001

последовательная или параллельная

400 нФ

0,01 нФ

±(0,002-Сх+0,02) нФ

±0,001

параллельная

40 нФ

0,001 нФ

±(0,0035-Сх+0,003) нФ

±0,0035

параллельная

4 нФ

0,001 нФ

±(0,0125Сх+0,005) нФ

не нормир.

параллельная

1 кГц

1000 мкФ

0,01 мкФ

не нормируется

не нормир.

-

400 мкФ

0,01 мкФ

±(0,015-Сх+0,03) мкФ

±0,01

последовательная

40 мкФ

0,001 мкФ

±(0,015Сх+0,002) мкФ

±0,0035

последовательная

4 мкФ

0,0001 мкФ

±(0,001-Сх+0,0002) мкФ

±0,001

последовательная

400 нФ

0,01 нФ

±(0,001-Сх+0,02) нФ

±0,001

последовательная или параллельная

40 нФ

0,001 нФ

±(0,001-Сх+0,002) нФ

±0,001

параллельная

4 нФ

0,0001 нФ

±(0,0035-Сх+0,0003) нФ

±0,0035

параллельная

400 пФ

0,01 пФ

±(0,0125 Сх+0,05) пФ

не нормир.

параллельная

10 кГц

100 мкФ

0,01 мкФ

±(0,03Сх+0,05) мкФ

±0,03

последовательная

40 мкФ

0,001 мкФ

±(0,015Сх+0,003) мкФ

±0,015

последовательная

10 кГц

4 мкФ

0,0001 мкФ

±(0,0035-Сх+0,0002) мкФ

±0,0035

последовательная

400 нФ

0,01 нФ

±(0,001-Сх+0,02) нФ

±0,001

последовательная

40 нФ

0,001 нФ

±(0,001-Сх+0,002) нФ

±0,001

последовательная или параллельная

4 нФ

0,0001 нФ

±(0,001-Сх+0,0002) нФ

±0,001

параллельная

400 пФ

0,01 пФ

±(0,0035-Сх+0,03) пФ

±0,0035

параллельная

40 пФ

0,01 пФ

±(0,0125Сх+0,05) пФ

не нормир.

параллельная

100 кГц (только для АКИП-6108)

10 мкФ

0,001 мкФ

±(0,06Сх+0,020) мкФ

±0,06

последовательная

4 мкФ

0,0001 мкФ

±(0,025 • Сх+0,001) мкФ

±0,025

последовательная

400 нФ

0,01 нФ

±(0,008-Сх+0,05) нФ

±0,008

последовательная

40 нФ

0,001 нФ

±(0,005-Сх+0,002) нФ

±0,005

последовательная

4 нФ

0,0001 нФ

±(0,005-Сх+0,0002) нФ

±0,005

последовательная или параллельная

400 пФ

0,01 пФ

±(0,008-Сх+0,02) пФ

±0,008

параллельная

40 пФ

0,001 пФ

±(0,012-Сх+0,005) пФ

±0,012

параллельная

4 пФ

0,001 пФ

не нормируется

не нормир.

-

* - погрешность измерений тангенса угла диэлектрических потерь (De) нормируется для D < 0,5.

Сх - измеренное значение емкости.

Измерение индуктивности L и добротности Q

Частота

испыта

тельного

сигнала

Поддиапазон

измерений

Цена

единицы

младшего

разряда

Пределы абсолютной погрешности измерений

Эквивалентная схема измерений

L

D*

100 и 120 Гц

1000 Гн

0,1 Гн

±(0,01-L+0,3) Гн

±0,01

последовательная

400 Гн

0,01 Гн

±(0,0035-L+0,02) Гн

±0,035

последовательная

40 Гн

0,001 Гн

±(0,001 L+0,002) Гн

±0,001

последовательная

4 Гн

0,0001 Гн

±(0,001 -L+0,0002) Гн

±0,001

последовательная

400 мГн

0,01 мГн

±(0,001-L+0,02) мГн

±0,001

последовательная

40 мГн

0,001 мГн

±(0,0045-L+0,002) мГн

±0,0045

последовательная

4 мГн

0,001 мГн

не нормируется

не нормир.

-

1 кГц

100 Гн

0,01 Гн

не нормируется

не нормир.

-

40 Гн

0,001 Гн

±(0,0035-L+0,002) Гн

±0,0035

последовательная

4 Гн

0,0001 Гн

±(0,001 -L+0,0002) Гн

±0,001

последовательная

400 мГн

0,01 мГн

±(0,001-L+0,02) мГн

±0,001

последовательная

40 мГн

0,001 мГн

±(0,001-L+0,002) мГн

±0,001

последовательная

4 мГн

0,0001 мГн

±(0,0045 L+0,0002) мГн

±0,0045

последовательная

400 мкГ н

0,1 мкГн

±(0,014-L>+0,5) мкГн

не нормир.

последовательная

10 кГц

1000 мГн

0,01 мГн

не нормируется

не нормир.

-

400 мГн

0,01 мГн

±(0,0035 Lx+0,02) мГн

±0,0035

последовательная или параллельная

40 мГн

0,001 мГн

±(0,001Lx+0,002) мГн

±0,001

последовательная или параллельная

10 кГц

4 мГн

0,0001 мГн

±(0,003 Lx+0,0002) мГн

±0,003

последовательная

400 мкГ н

0,01 мкГн

±(0,0045 Lx+0,02) мкГн

±0,0045

последовательная

40 мкГн

0,01 мкГн

±(0,014Lx+0,05) мкГн

не нормир.

последовательная

100 кГц (только для АКИП-6108)

100 мГн

0,01 мГн

не нормируется

не нормир.

-

40 мГн

0,001 мГн

±(0,008 Lx+0,002) мГн

±0,008

последовательная или параллельная

4 мГн

0,0001 мГн

±(0,005 Lx+0,0002) мГн

±0,005

последовательная или параллельная

400 мкГ н

0,01 мкГн

±(0,005 Lx+0,02) мкГн

±0,005

последовательная

40 мкГн

0,001 мкГн

±(0,008 Lx+0,005) мкГн

±0,008

последовательная

4 мкГн

0,001 мкГн

±(0,025 Lx+0,01) мкГн

не нормир.

последовательная

* - погрешность измерений добротности (Qe) нормируется для QxDe < 0,25 и вычисляется по формуле:

Qx ■

Qe = ±:

1 + Qx '

Lx - измеренное значение индуктивности, Qx - измеренное значение добротности. Измерение активного сопротивления R

Частота

испыта

тельного

сигнала

Поддиапазон

измерений

Цена единицы младшего разряда

Пределы абсолютной погрешности измерений

Эквивалентная

сxема

измерений

R

10 МОм

0,001 МОм

±(0,03 Rx+0,005) МОм

параллельная

4 МОм

0,0001 МОм

±(0,0125Rx+0,0003) МОм

параллельная

400 кОм

0,01 кОм

±(0,0035 Rx+0,02) кОм

параллельная

40 кОм

0,001 кОм

±(0,001Rx+0,002) кОм

параллельная

100 и 120 Гц, 1 и 10 кГц

4 кОм

0,0001 кОм

±(0,001Rx+0,0002) кОм

последовательная или параллельная

400 Ом

0,01 Ом

±(0,001Rx+0,02) Ом

последовательная

40 Ом

0,001 Ом

±(0,0035 Rx+0,002) Ом

последовательная

4 Ом

0,0001 Ом

±(0,01 Rx+0,0003) Ом

последовательная

0,4 Ом

0,0001 Ом

±(0,03 Rx+0,0005) Ом

последовательная

10 МОм

0,001 МОм

±(0,08Rx+0,02) МОм

параллельная

4 МОм

0,0001 МОм

±(0,03Rx+0,001) МОм

параллельная

400 кОм

0,01 кОм

±(0,012Rx+0,05) кОм

параллельная

40 кОм

0,001 кОм

±(0,008 Rx+0,002) кОм

параллельная

100 кГц

4 кОм

0,0001 кОм

±(0,005 Rx+0,0002) кОм

последовательная или параллельная

(только для

400 Ом

0,01 Ом

±(0,005 Rx+0,02) Ом

последовательная

АКИП-6108)

40 Ом

0,001 Ом

±(0,008 Rx+0,005) Ом

последовательная

4 Ом

0,0001 Ом

±(0,025 Rx+0,001) Ом

последовательная

0,4 Ом

0,0001 Ом

не нормируется

-

Rx - измеренное значение сопротивления.

Измерение модуля полного сопротивления Z и фазового угла 0

Частота

испыта

тельного

сигнала

Поддиапазон

измерений

Цена

единицы

младшего

разряда

Пределы абсолютной погрешности измерений

Эквивалентная

сxема

измерений

Z

0, °

100 и 120 Гц, 1 и 10 кГц

10 МОм

0,001 МОм

±(0,03Zx+0,005) МОм

±1,75

параллельная

4 МОм

0,0001 МОм

±(0,03Zx+0,0003) МОм

±0,75

параллельная

400 кОм

0,01 кОм

±(0,03Zx+0,02) кОм

±1,00

параллельная

40 кОм

0,001 кОм

±(0,001 Zx+0,002) кОм

±0,25

параллельная

4 кОм

0,0001 кОм

±(0,001Zx+0,0002) кОм

±0,1

последовательная или параллельная

400 Ом

0,01 Ом

±(0,001Zx+0,02) Ом

±0,1

последовательная

40 Ом

0,001 Ом

±(0,0035 Zx+0,002) Ом

±0,25

последовательная

4 Ом

0,0001 Ом

±(0,01Zx+0,0003) Ом

±0,6

последовательная

0,4 Ом

0,0001 Ом

±(0,03 Zx+0,0005) Ом

не нормир.

последовательная

100 кГц (только для АКИП-6108)

10 МОм

0,001 МОм

±(0,08Zx+0,02) МОм

±4,6

параллельная

4 МОм

0,0001 МОм

±(0,03Zx+0,001) МОм

±1,75

параллельная

400 кОм

0,01 кОм

±(0,03Zx+0,05) кОм

±1,00

параллельная

40 кОм

0,001 кОм

±(0,008 Zx+0,002) кОм

±0,8

параллельная

4 кОм

0,0001 кОм

±(0,005 Zx+0,0002) кОм

±0,3

последовательная или параллельная

400 Ом

0,01 Ом

±(0,005 Zx+0,02) Ом

±0,3

последовательная

40 Ом

0,001 Ом

±(0,008 Zx+0,005) Ом

±0,5

последовательная

4 Ом

0,0001 Ом

±(0,025 Zx+0,001) Ом

±1,5

последовательная

0,4 Ом

0,0001 Ом

не нормируется

не нормир.

-

Наименование характеристики

Значение

Скорость измерений, измерений/с, в режиме:

-    Slow МЕДЛЕННО;

-    Medium СРЕДНЕ;

-    Fast БЫСТРО

2;

5;

10

Время установления рабочего режима, мин, не более

10

Питание измерителей RLC

Аккумулятор Ni-Mh 7,2 В (600 мА*ч) или сеть 220В/50Гц через адаптер 9 В (150 мА)

Максимальный потребляемый ток, мА, не более

25

Условия эксплуатации:

-    нормальные:

-    температура окружающего воздуха, °С;

-    относительная влажность, %, не более;

-    рабочие:

-    температура окружающего воздуха, °С;

-    относительная влажность, %, не более

23±5;

75;

0 - 40; 80

Условия хранения:

- температура окружающего воздуха, °С

от минус 20 до 50

Габаритные размеры (длинахширинахвысота), мм, не более

193х92х44

Масса, г, не более

460

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на измеритель RLC методом наклейки и на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати.

Комплектность

1.

Измеритель RLC (с чехлом и подставкой)

1 шт.

2.

5-ти проводной измерительный кабель с зажимами Кельвина

1 шт.

3.

Пинцет-адаптер для SMD компонентов (для АКИП-6108)

1 шт.

4.

Сетевой адаптер DC 9 В, 150 мА

1 шт.

5.

Аккумулятор Ni-MH 7,2 В, 600 мАч

1 шт.

6.

Руководство по эксплуатации

1 шт.

7.

Методика поверки

1 шт.

8.

Упаковочная коробка

1 шт.

Поверка

Осуществляется по документу МП 06/008-13 «Измерители RLC АКИП-6108, АКИП-6109. Методика поверки», разработанному и утвержденному ГЦИ СИ ФБУ «ЦСМ Московской области» 19 декабря 2013 г.

Основные средства поверки:

-    магазин электрического сопротивления Р4834 (ГР №11326-90) (0,01-106) Ом, КТ 0,05;

-    мера электрического сопротивления Р4017 (ГР №7791-80) 107 Ом, КТ 0,05;

-    меры емкости Р597 (ГР №2684-70) от 100 пФ до 1 мкФ, 2 разряд;

-    магазин емкости Р5025 (ГР №5395-76) от 1 до 111 мкФ, КТ 0,5;

-    меры индуктивности Р596 от 100 мкГн до 1 Гн, 2 разряд;

-    мера индуктивности и добротности LQ-2300 (ГР №34593-07) (1-3000) Гн, 2 разряд.

Сведения о методах измерений

Методики (методы) измерений при использовании измерителей RLC АКИП-6108, АКИП-6109 приведены в руководстве по эксплуатации.

Нормативные документы, устанавливающие требования к измерителям RLC АКИП-6108, АКИП-6109

1.    ГОСТ 8.371-80 ГСИ. Государственный первичный эталон и общесоюзная поверочная схема для средств измерений электрической емкости.

2.    ГОСТ 8.732-2011 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений индуктивности.

3.    ГОСТ 8.764-2011 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений электрического сопротивления.

4.    Техническая документация фирмы изготовителя.

Рекомендации к применению

- выполнение работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям.

Развернуть полное описание