Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-?, XDVM®-µ-SD, XDV®-µ

Основные
Тип FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-?, XDVM®-µ-SD, XDV®-µ
Год регистрации 2009
Дата протокола 09 от 17.09.09 п.131
Класс СИ 31.01
Номер сертификата 36370
Срок действия сертификата 01.10.2014
Страна-производитель  Германия 
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С

Назначение

Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERS СОРЕ X-RAY XDVM-p, XDVM-p -SD, XDV- ц (далее - измерители) предназначены для измерения массовой доли компонентов и толщины покрытий методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции. Основной областью применения являются заводские лаборатории металлургических, металлообрабатывающих и машиностроительных предприятий.

Описание

Принцип действия измерителей основан на излучении химическими элементами, присутствующими в анализируемом образце, характеристических спектральных линий под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специализированное программное обеспечение позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия.

Основными элементами конструкции измерителей являются:

- Корпус, служащий для размещения агрегатов спектрометра, стабилизации аналитических условий и для защиты пользователя от излучения;

- Рентгеновская трубка - источник рентгеновского излучения;

- Источник питания, служащий для обеспечения всех частей измерителя электроэнергией с определенными характеристиками;

- Видеокамера, служащая для визуального наведения измерителя на определяемую область;

- Детектор (полупроводниковый), служащий для преобразования гамма квантов вторичного рентгеновского излучения в электрический сигнал;

- Персональный компьютер, предназначенный для приема, обработки и выдачи информации под управлением специализированного программного обеспечения.

- Ручное и программируемое координатное устройство для перемещения образца в процессе облучения.

Основное отличие моделей измерителей рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE

X-RAY XDVM-ц, ХРУМ-ц-SD, XDV- ц

FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-ц-SD,

FISCHERSCOPE X-RAY XDV- ц

FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-ц,

Тип детектора

полупроводниковый

газонаполненый

Фокусировка первичного пучка

Поликапиллярные линзы

минимальный диа

метр пучка, мкм

100

20

60

Технические характеристики

№ пп

Наименование

FISCHERSCOPE

X-RAY XDVM-ц, ХБУМ-ц-8В, XDV- ц

1

Анализируемые элементы

от алюминия (Z=13) до урана (Z=92)

2

Количество слоев покрытия, не более

24

3

Диапазон измерения толщины покрытия, мкм

1-60

4

Предел допускаемой основной абсолютной погрешности измерения толщины покрытия, мкм, не более

±0,55

5

Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения толщины покрытия, не более

0,2 мкм в диапазоне от 1—10 мкм 2% в диапазоне от 10-60 мкм

6

Диапазон измерения массовой доли компонента, %

2-100

7

Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения массовой доли компонента, %, не более

1,0

8

Напряжение питания, В При частоте, Гц

220 (-15-+10)% 50/60+ 1%

9

Потребляемая мощность, кВА, не более

3,5

10

Габаритные размеры, мм, не более Ширина х Глубина х Высота

660x835x720

И

Масса, кг, не более

135

12

Условия эксплуатации:

Температура окружающей среды, °C Относительная влажность воздуха, % Высота над уровнем моря, м, не более

10-40

0-95

3000

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносят на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом и на заднюю панель измерителя методом наклеивания.

Комплектность

Комплектность измерителя рентгенофлуоресцентного FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-p, XDVM-ц -SD, XDV- ц:

1. Измеритель рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY - 1 шт.;

2. Персональный компьютер - 1 шт.

3. Настроечные образцы - 1 комплект;

4. Руководство по эксплуатации - 1 шт.;

5. Методика поверки - 1 шт.

Поверка

Поверка производится в соответствии с методикой поверки «Измеритель рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY XDL/XDAL; XDV; XUL/XAN. Методика поверки», согласованной с ФГУП ВНИИОФИ в июне 2009 года.

Основные средства поверки:

- Государственные стандартные образцы по ГОСТ 8.315-97 «ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов» в соответствии с областью применения измерителей рентгенофлуоресцентных и набором определяемых элементов.

- Набор мер толщины покрытий типа НТП на МО, диапазон 3-2000 мкм, 2-й разряд. Р 50.2.006-2001. Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».

Межповерочный интервал - 1 год.

Нормативные документы

1. Рекомендации по метрологии Р 50.2.006-2001 «ГСИ Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».

2. Техническая документация фирмы “Helmut Fischer GmbH Institut fur Elek-tronik und Messtechnik ”, Германия.

Заключение

Тип измерителей рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-ц, XDVM-ц -SD, XDV- ц, утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации.

Развернуть полное описание