Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4

Основные
Тип FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4
Год регистрации 2009
Дата протокола 09 от 17.09.09 п.135
Класс СИ 31.01
Номер сертификата 36374
Срок действия сертификата 01.10.2014
Страна-производитель  Германия 
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С

Назначение

Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 (далее - измерители) предназначены для измерения массовой доли компонентов и толщины покрытий методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции. Основной областью применения являются заводские лаборатории металлургических, металлообрабатывающих и машиностроительных предприятий.

Описание

Принцип действия измерителей основан на излучении химическими элементами, присутствующими в анализируемом образце, характеристических спектральных линий под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специализированное программное обеспечение позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия.

Основными элементами конструкции измерителей являются:

- Корпус, служащий для размещения агрегатов спектрометра, стабилизации аналитических условий и для защиты пользователя от излучения;

- Рентгеновская трубка - источник рентгеновского излучения;

- Источник питания, служащий для обеспечения всех частей измерителя электроэнергией с определенными характеристиками;

- Видеокамера, служащая для визуального наведения измерителя на определяемую область;

- Детектор (полупроводниковый), служащий для преобразования гамма квантов вторичного рентгеновского излучения в электрический сигнал;

- Персональный компьютер, предназначенный для приема, обработки и выдачи информации под управлением специализированного программного обеспечения.

- Ручное и программируемое координатное устройство для перемещения образца в процессе облучения.

Основное отличие моделей измерителей рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4

FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4

Коичесво коллиматоров

1

4

Тип трубки

Обычная

Микрофокусная

Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 выпускаются в 10 модификациях (XDL-B, XDLM-C4, XDL-B XYZp-T8, XDL-B Z А9, XDLM-C4 XYZp T9, XDL-B Z, XDLM-C4 Z, XDL-B XYmZ, XDLM-C4 XYmZ, XDLM-C4 PCB) в зависимости от типа платформы, привода по оси Z и типа привода, что отражается в названии модификации следующим образом:

• по типу платформы, по дистанции перемещения по XY, аббревиатура обозначения: T9, Т8, А9.

• по приводу по оси Z, аббревиатура обозначения: Z

• по типу привода: ручной привод, аббревиатура обозначения: XYmZ;

или автоматический привод аббревиатура обозначения: XYZp или РСВ

Технические характеристики

№ пп

Наименование

FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4

1

Анализируемые элементы

от алюминия (Z=13) до урана (Z=92)

2

Количество слоев покрытия, не более

24

3

Диапазон измерения толщины покрытия, мкм

1-60

4

Предел допускаемой основной абсолютной погрешности измерения толщины покрытия, мкм, не более

±0,55

5

Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения толщины покрытия, не более

0,2 мкм в диапазоне от 1-^10 мкм 2% в диапазоне от 10-60 мкм

6

Диапазон измерения массовой доли компонента, %

2-100

7

Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения массовой доли компонента, %, не более

1,0

8

Напряжение питания, В При частоте, Гц

220 (-15-±10)% 50/60 ± 1%

9

Потребляемая мощность, кВА, не более

3,5

XDL-B и XDLM-С4

XDL-BZ

XDLM-

C4Z

XDL-В XYmZ

XDLM-

С4 XYmZ

XDL-В XYZp-Т8

XDL-

В Z

А9

XDLM-

С4 XYZp T9

XDLM-C4

РСВ

Г абаритные размеры, мм, не более

Ширина х Глубина х

Высота

570x740x650

765x835x705

570x740x650

Масса, кг, не более

90

95

105

110

Условия эксплуатации:

Температура окружающей среды, °C Относительная влажность воздуха, % Высота над уровнем моря, м, не более

10-40 0-95

3000

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносят на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом и на заднюю панель измерителя методом наклеивания.

Комплектность

Комплектность измерителя рентгенофлуоресцентного FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4:

1. Измеритель рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY - 1 шт.;

2. Персональный компьютер - 1 шт.

3. Настроечные образцы - 1 комплект;

4. Руководство по эксплуатации - 1 шт.;

5. Методика поверки - 1 шт.

Поверка

Поверка производится в соответствии с методикой поверки «Измеритель рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY XDL/XDAL; XDV; XUL/XAN. Методика поверки», согласованной с ФГУП ВНИИОФИ в июне 2009 года.

Основные средства поверки:

- Государственные стандартные образцы по ГОСТ 8.315-97 «ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов» в соответствии с областью применения измерителей рентгенофлуоресцентных и набором определяемых элементов.

- Набор мер толщины покрытий типа НТП на МО, диапазон 3-2000 мкм, 2-й разряд. Р 50.2.006-2001. Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».

Межповерочный интервал - 1 год.

Нормативные документы

1. Рекомендации по метрологии Р 50.2.006-2001 «ГСИ Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».

2. Техническая документация фирмы “Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik ”, Германия.

Заключение

Тип измерителей рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4, утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации.

Развернуть полное описание