Назначение
Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 (далее - измерители) предназначены для измерения массовой доли компонентов и толщины покрытий методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции. Основной областью применения являются заводские лаборатории металлургических, металлообрабатывающих и машиностроительных предприятий.
Описание
Принцип действия измерителей основан на излучении химическими элементами, присутствующими в анализируемом образце, характеристических спектральных линий под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специализированное программное обеспечение позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия.
Основными элементами конструкции измерителей являются:
- Корпус, служащий для размещения агрегатов спектрометра, стабилизации аналитических условий и для защиты пользователя от излучения;
- Рентгеновская трубка - источник рентгеновского излучения;
- Источник питания, служащий для обеспечения всех частей измерителя электроэнергией с определенными характеристиками;
- Видеокамера, служащая для визуального наведения измерителя на определяемую область;
- Детектор (полупроводниковый), служащий для преобразования гамма квантов вторичного рентгеновского излучения в электрический сигнал;
- Персональный компьютер, предназначенный для приема, обработки и выдачи информации под управлением специализированного программного обеспечения.
- Ручное и программируемое координатное устройство для перемещения образца в процессе облучения.
Основное отличие моделей измерителей рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4
| FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B | FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4 |
| Коичесво коллиматоров | 1 | 4 |
| Тип трубки | Обычная | Микрофокусная |
Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 выпускаются в 10 модификациях (XDL-B, XDLM-C4, XDL-B XYZp-T8, XDL-B Z А9, XDLM-C4 XYZp T9, XDL-B Z, XDLM-C4 Z, XDL-B XYmZ, XDLM-C4 XYmZ, XDLM-C4 PCB) в зависимости от типа платформы, привода по оси Z и типа привода, что отражается в названии модификации следующим образом:
• по типу платформы, по дистанции перемещения по XY, аббревиатура обозначения: T9, Т8, А9.
• по приводу по оси Z, аббревиатура обозначения: Z
• по типу привода: ручной привод, аббревиатура обозначения: XYmZ;
или автоматический привод аббревиатура обозначения: XYZp или РСВ
Технические характеристики
| № пп | Наименование | FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 |
| 1 | Анализируемые элементы | от алюминия (Z=13) до урана (Z=92) |
| 2 | Количество слоев покрытия, не более | 24 |
| 3 | Диапазон измерения толщины покрытия, мкм | 1-60 |
| 4 | Предел допускаемой основной абсолютной погрешности измерения толщины покрытия, мкм, не более | ±0,55 |
| 5 | Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения толщины покрытия, не более | 0,2 мкм в диапазоне от 1-^10 мкм 2% в диапазоне от 10-60 мкм |
| 6 | Диапазон измерения массовой доли компонента, % | 2-100 |
| 7 | Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения массовой доли компонента, %, не более | 1,0 |
| 8 | Напряжение питания, В При частоте, Гц | 220 (-15-±10)% 50/60 ± 1% |
| 9 | Потребляемая мощность, кВА, не более | 3,5 |
| XDL-B и XDLM-С4 | XDL-BZ | XDLM- C4Z | XDL-В XYmZ | XDLM- С4 XYmZ | XDL-В XYZp-Т8 | XDL- В Z А9 | XDLM- С4 XYZp T9 | XDLM-C4 РСВ |
| Г абаритные размеры, мм, не более Ширина х Глубина х Высота | 570x740x650 | 765x835x705 | 570x740x650 |
| Масса, кг, не более | 90 | 95 | 105 | 110 |
| Условия эксплуатации: Температура окружающей среды, °C Относительная влажность воздуха, % Высота над уровнем моря, м, не более | 10-40 0-95 3000 |
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносят на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом и на заднюю панель измерителя методом наклеивания.
Комплектность
Комплектность измерителя рентгенофлуоресцентного FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4:
1. Измеритель рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY - 1 шт.;
2. Персональный компьютер - 1 шт.
3. Настроечные образцы - 1 комплект;
4. Руководство по эксплуатации - 1 шт.;
5. Методика поверки - 1 шт.
Поверка
Поверка производится в соответствии с методикой поверки «Измеритель рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY XDL/XDAL; XDV; XUL/XAN. Методика поверки», согласованной с ФГУП ВНИИОФИ в июне 2009 года.
Основные средства поверки:
- Государственные стандартные образцы по ГОСТ 8.315-97 «ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов» в соответствии с областью применения измерителей рентгенофлуоресцентных и набором определяемых элементов.
- Набор мер толщины покрытий типа НТП на МО, диапазон 3-2000 мкм, 2-й разряд. Р 50.2.006-2001. Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».
Межповерочный интервал - 1 год.
Нормативные документы
1. Рекомендации по метрологии Р 50.2.006-2001 «ГСИ Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».
2. Техническая документация фирмы “Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik ”, Германия.
Заключение
Тип измерителей рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4, утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации.
