Приборы и установки для измерения параметров электронных ламп и полупроводниковых приборов

Фото

Измерители маломощных транзисторов и диодов Л2-54

Тип

Л2-54

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Измерители крутизны высокочастотных полевых транзисторов Л2-38

Тип

Л2-38

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Измерители емкостей полевых транзисторов Л2-34

Тип

Л2-34

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

п/я Г-4953, г.Москва

Фото

Блоки классификатора маломощных транзисторов и диодов Я9Л-36

Тип

Я9Л-36

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

п/я Г-4953, г.Москва

Фото

Анализатор параметров полупроводниковых структур (с дополнительным блоком генератора импульсов) с коммутатором Agilent 4156С (анализатор параметров) Agilent 41501A (блок) Agilent Е5250А (коммутатор)

Тип

Agilent 4156С (анализатор параметров) Agilent 41501A (блок) Agilent Е5250А (коммутатор)

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Анализатор емкости и проводимости 590

Тип

590

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-
Показано с 46 по 51 из 51 (всего 4 страниц)