Назначение
 Анализаторы рентгенофлуоресцентные Aczet предназначены для измерений толщины покрытий и массовой доли элементов в веществах, материалах и покрытиях методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции.
Описание
 Принцип действия анализаторов рентгенофлуоресцентных Aczet (далее - анализаторы) основан на измерении спектра вторичного рентгеновского излучения. Первичное рентгеновское излучение, генерируемое рентгеновской трубкой, взаимодействует с элементами анализируемого образца и создает вторичное рентгеновское излучение, интенсивность линий спектра которого зависит от элементного состава образца и толщины покрытия.
 Конструктивно анализаторы состоят из источника рентгеновского излучения, системы рентгеновской оптики, детектора, измерительного столика, управляющей электроники и блока питания.
 Анализаторы выпускаются в 5 моделях: StaRk, Cube, Compact Eco, Cube X, Axiom, которые отличаются конструктивным исполнением, типом детектора, размером коллиматора.
 Анализаторы выполнены в виде настольных приборов (модель StaRk может выпускаться с встроенным дисплеем) и включают в себя следующие основные составные части:
 - измерительная камера, расположенная внутри корпуса и служащая для размещения образцов;
 - видеокамера с увеличением для визуального наведения на измеряемую область образцов;
 - широкополосный многоканальный усилитель для регистрации излучаемого характеристического рентгенофлуоресцентного излучения;
 - измерительная головка в моделях StaRk, Cube, Compact Eco неподвижна, а в моделях Cube X и Axiom измерительная головка помещается в подвижный лифт в стальном корпусе для обеспечения фокусировки на объекте измерения с помощью джойстика;
 - микрофокусная рентгеновская трубка, которая находится в экранированном корпусе, обеспечивающем испускание рентгеновских лучей направленным пучком в измерительную камеру;
 - коллиматоры круглой и (или) прямоугольной формы для создания требуемого пятна рентгеновского излучения на образце путем вырезания излучения из первичного рентгеновского пучка. Коллиматоры могут иметь различные диаметры: от 0,1 до 1,5 мм. Некоторые модели могут оснащаться автоматическим сменщиком коллиматоров по выбору оператора;
 - измерительный стол, который может быть стационарным (модели StaRk и Cube X), может быть ручным или с моторизованным приводом (модели Cube, Compact Eco, Axiom);
 - детектор различных типов: отпаянный пропорциональный, детектор с PIN-диодом (Si-PIN) или кремниевый дрейфовый детектор (SDD).
 Программное обеспечение анализаторов может включать функцию определения толщины покрытий методом фундаментальных параметров.
 Заводской номер анализаторов имеет цифровой формат и нанесен типографской печатью на самоклеящуюся этикетку, расположенную на задней стенке корпуса анализатора, или иным пригодным способом, обеспечивающим идентификацию каждого экземпляра анализатора, возможность прочтения и сохранность номера в процессе эксплуатации. Конструкцией анализаторов не предусмотрена возможность нанесения знака поверки. Корпус анализаторов металлический, окрашиваемый в цвета, которые определяет изготовитель.
 Пломбирование анализаторов не предусмотрено.
 Общий вид анализаторов представлен на рисунках 1-5. Место нанесения заводского номера представлено на рисунке 6.
 Рисунок 1 - Общий вид анализаторов модели StaRk
 Рисунок 2 - Общий вид анализаторов модели Cube
 Рисунок 3 - Общий вид анализаторов модели Compact Eco
 Рисунок 4 - Общий вид анализаторов модели Cube X
 Рисунок 5 - Общий вид анализаторов модели Axiom
 Место
 нанесения
 заводского номера
 Рисунок 6 - Место нанесения заводского номера
 Программное обеспечение
 В состав программного обеспечения анализаторов (далее - ПО) входит встроенное метрологически значимое ПО и ПО верхнего уровня, предназначенное для отображения измерительной информации. Идентификационные данные метрологически значимой части ПО приведены в таблице 1.
 Уровень защиты программного обеспечения «высокий» в соответствии с
 Р 50.2.077-2014.
 Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
  |   Идентификационные данные (признаки)  |   Значение  | 
 |   Идентификационное наименование ПО  |   XMASTER  | 
 |   Номер версии (идентификационный номер) ПО  |   не ниже 1.0.0.0  | 
 |   Цифровой идентификатор ПО  |   -  | 
 
  Технические характеристики
 Таблица 2 - Метрологические характеристики
  |   Наименование характеристики  |   Значение  | 
 |   Диапазон показаний толщины покрытий, мкм  |   от 0,001 до 110  | 
 |   Диапазон измерений толщины покрытий, мкм  |   от 0,09 до 36  | 
 |   Пределы допускаемой относительной погрешности измерений толщины покрытий в поддиапазонах1), %:  - от 0,09 до 1,10 мкм включ.  - св. 1,1 до 22,0 мкм включ.  - св. 22 до 36 мкм включ.  |   ±6  ±5  ±6  | 
 |   Пределы допускаемой относительной погрешности измерений толщины покрытий методом фундаментальных параметров в поддиапазонах2), %:  - от 0,09 до 1,10 мкм включ.  - св. 1,1 до 22,0 мкм включ.  - св. 22 до 36 мкм включ.  |   ±15  ±10  ±15  | 
 |   Диапазон измерений массовой доли элементов, %  |   от 0,1 до 100  | 
 
   |   Наименование характеристики  |   Значение  | 
 |   Пределы допускаемой неисключённой систематической составляющей относительной погрешности измерений массовой доли элементов3), %, в поддиапазонах:  - от 0,1 % до 1,0 % включ.  - св. 1 % до 10 % включ.  - св. 10 % до 100 % включ.  |   ±20  ±15  ±10  | 
 |   Предел допускаемого относительного СКО результата измерений массовой доли элементов3), %, в поддиапазонах: - от 0,1 % до 1,0 % включ.  - св. 1 % до 10 % включ.  - св. 10 % до 100 % включ.  |   10 5  2  | 
 |   Чувствительность4), имп-с-1-%-1, не менее:  - для анализаторов с отпаянным пропорциональным детектором  - для анализаторов с Si-PIN и SDD детекторами  |   50  300  | 
 |   Предел допускаемого относительного СКО выходного сигнала4), %  |   2  | 
 |   1) Для однослойных покрытий.  2) При наличии режима измерений методом фундаментальных параметров.  3) Значения установлены при измерении массовых долей марганца, хрома, никеля, вольфрама, молибдена, меди, цинка, железа в сталях легированных и в сплавах на основе меди (ГСО 8456-2003, ГСО 11428-2019), массовых долей золота и серебра в золоте лигатурном (ГСО 8757-2006, ГСО 8758-2006, ГСО 8759-2006, ГСО 8762-2006).  4) Значение нормировано для железа с массовой долей от 0,9 % до 1,1 %.  | 
 
  Таблица 3 - Основные технические характеристики
  |   Наименование характеристики  |   Значение  | 
 |   StaRk  |   Cube  |   Compact Eco | Cube X  |   Axiom  | 
 |   Анализируемые элементы1)  |   от 13 Al до 92U  | 
 |   Количество измеряемых слоев покрытия, включая основание, шт.  |   5  | 
 |   Относительное отклонение показаний толщины для многослойных покрытий, %  |   ±5  | 
 |   Габаритные размеры, мм, не более:  - длина  - ширина  - высота  |   500  450  320  |   460  360  310  |   630  430  420  |   610  380  450  |   750  500  550  | 
 |   Масса, кг, не более  |   35  |   27  |   45  |   50  |   100  | 
 |   Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц  |   от 115 до 230 от 49 до 51  | 
 |   Условия эксплуатации:  - температура окружающей среды, °С  - относительная влажность окружающей среды, %, не более  |   от +10 до +40  80  | 
 
  1) Для анализаторов с отпаянным пропорциональным детектором и с детектором Si-PIN от
 22Ti до 92U
Знак утверждения типа
 наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.
Комплектность
 Таблица 4 - Комплектность средства измерений
  |   Наименование  |   Обозначение  |   Количество  | 
 |   Анализатор рентгенофлуоресцентный  |   Aczet  |   1 шт.  | 
 |   Диск с программным обеспечением  |   -  |   1 шт.  | 
 |   Руководство по эксплуатации  |   -  |   1 экз.  | 
 
Сведения о методах измерений
 приведены в разделе «Измерение» руководства по эксплуатации.
Нормативные документы
 Приказ Росстандарта от 28 сентября 2018 г. № 2089 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений поверхностной плотности и массовой доли элементов в покрытиях»;
 Приказ Росстандарта от 19 февраля 2021 г. № 148 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений содержания неорганических компонентов в жидких и твердых веществах и материалах».