Анализаторы фрагментов микроструктуры твердых тел

Основные
Тип
Год регистрации 2010
Дата протокола 03д2 от 29.07.10 п.55301д от 18.03.10 п.37708д от 16.07.09 п.299
Класс СИ 31.01
Номер сертификата 36493 аннул
Примечание Взамен № 27438-04. Заменен в 2010 г. на 27438-10
Срок действия сертификата 01.08.2014
Страна-производитель  Россия 
Технические условия на выпуск ТУ 4317-001-12285114-2004 с изменениями №1и №2
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С

Назначение

Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел (далее - анализатор) предназначен для измерений размеров фрагментов микроструктуры твердых тел.

Область применения: угольная, металлургическая, химическая и др. промышленности.

Описание

Принцип работы анализатора основан на прямом измерении линейных размеров фрагментов микроструктуры твердых тел.

Анализатор представляет собой измерительную установку, состоящую из устройства для создания изображения, устройства преобразования изображения в цифровую форму , устройства передачи изображения в компьютер и управляющей программы, с помощью которой осуществляется анализ изображения, включающей в себя подготовку изображения к измерениям, измерение параметров фрагментов и преобразование результатов измерений в параметры микроструктуры исследуемых объектов.

Анализатор может применяться для анализа различных объектов, для которых можно задавать разные способы подготовки изображения и разные параметры, описывающие микроструктуру. Эти задачи анализатор выполняет с помощью разных управляющих программ, специфических для каждой задачи.

Технические характеристики

Диапазон измерений длины, мкм                                от 0,5 до 2000.

Предел допускаемого относительного среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности, %:

- при увеличении до х500 включительно                            0,2;

- при увеличении свыше х500                                      0,4.

Пределы допускаемой относительной погрешности, %:

- при увеличении до х500 включительно                            ± 0,25;

- при увеличении свыше х500                                    ±0,65.

Параметры электрического питания и потребляемая мощность:

- напряжение переменного тока, В                                   220±20;

- частота переменного тока, Гц                                          5 0± 1;

- потребляемая мощность, В-A, не более

Габаритные размеры после установки у пользователя, см, не более:

- длина

- ширина

- высота

Масса, кг, не более

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °C                                 от 15 до 40;

относительная влажность, %                                        от 20 до 80.

Средняя наработка на отказ, ч, не менее

Средний срок службы, л

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на титульный лист руководства по эксплуатации и паспорт типографским способом, на лицевую панель в виде наклейки.

Комплектность

Наименование блоков

Количество

1. Микроскоп оптический

(в комплекте: столик предметный; переходник (камера-микроскоп); блок питания лампы микроскопа; комплект объективов; инструкция по эксплуатации)

1

2. Система оцифровки изображения в комплекте с системой цифрового видеовхода

1

3. Компьютер (М/В Intel G33 (CPU Intel Core2 Duo, 2 GB RAM, DVD-R/RW, HDD 500 GB, Power ATX 350 W, FDD, Keyboard, Mouse, 19” LCD monitor, Microsoft Windows XP, Vista, Microsoft Office 2003/2007, принтер: минимально допустимые характеристики: 600 dpi, цветной, А4)

1

4. Объект-микрометр ОМ-О (длина шкалы 1,0000±0,0005 мм; абсолютная погрешность ± 0,0001 мм)

1

5. Управляющая программа СИАМС 700

1

6. Руководство по эксплуатации РЭ 4317-001-12285114-2009

1

7. Паспорт ПС 4317-001- 12285114-2009

1

8. Методика поверки МП 52-224-2009

1

Поверка

Поверка производится в соответствии с нормативным документом "ГСП. Анализаторы фрагментов микроструктуры твердых тел. Методика поверки" МП 52-224-2009, утвержденной ФГУП «УНИИМ» в декабре 2009 г.

Основные средства поверки:

- объект-микрометр ОМ-О (длина шкалы 1,0000±0,0005 мм; абсолютная погрешность ± 0,0001 мм).

Межповерочный интервал 1 год.

Нормативные документы

ТУ 4317 - 001 - 12285114 - 2004 " Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел.

Технические условия" с изменениями № 1 и № 2.

Заключение

Тип анализаторов фрагментов микроструктуры твердых тел утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации.

Развернуть полное описание