Анализаторы элементные J200

Назначение

Анализаторы элементные J200 (далее - анализаторы) предназначены для измерений массовой доли компонентов в различных твердых образцах в соответствии с аттестованными методиками измерений.

Описание

Принцип действия анализатора основан на локальном испарении анализируемой пробы под действием лазерного излучения с наносекундными импульсами частотой от 1 до 20 имп/с в среде инертного газа (аргона и/или гелия) с образованием плазменного эмиссионного излучения, применяемого для определения химического состава и количественного содержания компонентов пробы. Получаемое в процессе работы лазерного источника эмиссионное излучение регистрируется посредством высокопроводящей волоконной оптики на 6-ти канальном спектрометре высокого разрешения. Спектр плазмы состоит из характеристических эмиссионных линий (атомных и ионных) компонентов пробы.

Лазерный источник состоит из двух основных модулей: блока генератора лазерных импульсов на основе твердотельного лазера (алюмо-иттриевый гранат, легированный ионами неодима (Nd:YAG ), с генерацией на длине волны излучения 1064 нм и блока питания со встроенной замкнутой системой водяного охлаждения. Выходящий лазерный луч посредством системы зеркал и фокусирующих оптических элементов направляется и автоматически фокусируется на поверхности анализируемого образца. Образец располагается на специальном столике, изолированном от внешней среды, в атмосфере инертного газа (опционально). Столик оборудован системой автоматического перемещения в трех координатных осях (X, Y, Z) для локализации места отбора пробы и фокусировки лазерного луча на поверхности образца. Для мониторинга анализируемого образца в системе имеется цветная цифровая видеокамера 1280х1024 CMOS с функцией увеличения изображения. Для управления газовыми потоками в установке использованы цифровые контроллеры. Для корректировки старта регистрации сигналов в системе используется 4-х канальный генератор задержки импульсов с диапазоном времен задержки от 50 нс до 1 мс с шагом 25 нс.

Таблица 1

Таблица 2

Программное обеспечение, входящее в состав элементного анализатора, позволяет устанавливать и контролировать режимные параметры его работы, отслеживать выполнение анализа, обрабатывать экспериментальные данные.

Уровень защиты встроенного программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с Р 50.2.077-2014 - высокий.

Влияние программного обеспечения анализатора учтено при нормировании метрологических характеристик.

Технические характеристики

Длина волны лазерного излучения, нм Диапазон длины волны, нм

1064 от 190 до 1040

10

20

12000

60000

0,25

3500

635х686х673

132

от 15 до 35 от 20 до 80 от 84 до 106,7

220-33

^^+22

50 ± 1 8

Относительное среднее квадратическое отклонение выходного сигнала при анализе стандартного образца ГСО 8046-94 состава сплава цинкового с индексом 1582, %, не более

-    для аналитической линии Cu (324,7 нм)

-    для аналитической линии Al (396,1 нм)

Интенсивность выходного сигнала при анализе стандартного образца ГСО 8046-94 состава сплава цинкового с индексом 1582, амплитуда пика, не менее:

-    для аналитической линии Cu (324,7 нм)

-    для аналитической линии Al (396,1 нм)

Разрешающая способность по критерию FWHM (ширина пика на половине высоты), нм

Потребляемая мощность, Вт, не более Габаритные размеры, мм, не более Масса, кг, не более

Условия эксплуатации:

-    температура окружающего воздуха, °С

-    относительная влажность окружающего воздуха при t=25 °С, %

-    атмосферное давление, кПа

-    напряжение питания, В

-    частота переменного тока, Гц

-    средний срок службы, лет, не менее

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации методом компьютерной графики и на корпус элементного анализатора J200 путем наклейки голографического изображения знака утверждения типа на заднюю стенку анализатора.

Комплектность

Элементный анализатор J200.

Устройство ввода пробы (по заказу).

Руководство по эксплуатации.

Методика поверки.

Поверка

осуществляется по документу МП 63554-16 "Анализаторы элементные J200. Методика поверки", утвержденному ФГУП "ВНИИМС" 25 ноября 2015 г.

Средства поверки: ГСО 8046-94 состава сплава цинкового типа ЦА4М1 (комплект М158). Знак поверки наносится на верхний левый угол правой боковой крышки анализатора.

Сведения о методах измерений

отсутствуют.

Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к анализаторам элементным J200

Техническая документация компании Applied Spectra, Inc., США.